茂莱光学“一种应用于镜片边厚差的测量装置”专利公布

据国家知识产权局公告，茂莱光学新获得一项实用新型专利授权，专利名为“一种应用于镜片边厚差的测量装置”，专利申请号为CN202321945268.3，授权日为2024年1月5日。

专利摘要：本实用新型公开了一种应用于镜片边厚差的测量装置，包括底板以及设置于底板上的圆盘，所述圆盘上设有至少三组沿圆周等夹角设置的滑槽，每条滑槽内设有用于形成镜托的T型卡块；底板上于圆盘设有竖杆，竖杆上部固定有水平杆，水平杆远离竖杆的一端垂直设有用于测量的厚度表。本实用新型通过在测量板上设置可移动的T型卡块形成直径可调整用于托起镜片的镜托，避免因不同尺寸镜片而设置不同规格的圆形治具，不仅扩大了装置的使用范围，还减小了测量设备的成本。

图片:CN220304507U_EDA0004354014510000011.png