简介 BHIM'24bp
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FRED能够提供用户有关通过光机系统任意鬼像和散射路径的详细情况。我们简单地设置光学和机械的物理属性 (涂层、材料、散射模型等),设置一个合适的光源,并且让FRED记录下在光线追迹时系统所有唯一的路径。当光线追迹完成时,我们可以对光线追迹的路径进行后期处理,来提取出与我们系统相关的路径。 '2j~WUEmg
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然而,假设我们对于表征一个光学系统中的初级鬼像路径很感兴趣,或者我们的系统没有完全的开发或改进,来保证一个长的多阶次的杂散光分析。本文介绍了一个脚本,可以在一个导入的序列设计中对初级鬼像路径进行自动分析。我们首先来讨论合理地设置分析中导入的序列文件的过程,然后讨论脚本的运行以及执行分析的过程。 KM E XT$p
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指定表面涂层性质 3 k`NNA
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分析的要点是找出多少功率(以及功率的分布)到达了我们的焦平面,这是由在我们的透镜表面之间的镜面系列的现象产生的,这些都不是“设计”路径。举个例子,我们第一个透镜元件内的内部反弹可能会到达探测器,我们希望可以量化它的贡献。 ^=3 ^HQ'Zm
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