清华大学“激光器相对强度噪声的测试系统及方法”专利公布

12月30日，据国家知识产权局公告，清华大学申请一项名为“激光器相对强度噪声的测试系统及方法”，公开号CN117309331A，申请日期为2023年10月。 ~&B{"d  
VcKufV'  
专利摘要显示，本申请涉及激光器性能测试技术领域，特别涉及一种激光器相对强度噪声的测试系统及方法，其中，系统包括：光电探测器用于接收待测激光器的光信号，并将光信号转换为电信号；信号处理电路用于对电信号进行信号处理，获得处理后的电信号；频谱分析仪用于对处理后的电信号进行谱密度分析，获得待测激光器的谱密度，并根据谱密度得到待测激光器的相对强度噪声。由此，解决了相关技术中针对低相对强度噪声、小输入光功率的情况，造成相对强度噪声项远小于散粒噪声项，增加了二次拟合系数的不确定性，导致测试的精度较低，降低测试系统的精确性，且测试步骤较为繁琐，降低了测试的简洁性的问题。