时间地点: %x}Unk
主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司 Q&PEO%/D
授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00 \[8uE,=|
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 ]C|xo.=?]
课程讲师:讯技光电高级工程师 '^O}`
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) 8Bxb~*
课程简介: 0&Iu+hv
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 V4W(>g
课程大纲: 9`@}KnvB?
1. 杂散光介绍与术语 &4M,)Q (
1.1 杂散光路径 `Cy;/95m
1.2 关键面和照明面 |h((SreO
1.3杂光内部和外部杂散光 >=1UhHFNI
2. 基本辐射度量学-辐射 l~@ -oE
2.1 BSDF及其散射模型 X&@>M}
2.2 TIS总散射概念 )sK_k
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2.3 PST(点源透射比) B7%m7GM
3. 杂散光分析中的光线追迹
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3.1 FRED软件光线追迹介绍 3#F"UG2,_
3.2构建杂散光模型 [W dxMU
定义光学和机械几何 O"RIY3m
定义光学属性 sd*NY
3.3 光线追迹 w'mn O'%
使用光线追迹来量化收敛速度 [LbCG
重点采样 wc}4:~
反向光线追迹 Oe k$f,J-
控制光线Ancestry以增加收敛速度 aLQ]2m
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 !;Ctz'wz
使用GPU来进行追迹 @ "CP@^
RAM内存使用设置 =RlAOgJ
4.散射模型 lXnv(3j3*s
4.1来自表面粗糙的散射 _w%{yF6
低频、中频、高频 "`[4(j
RMS粗糙度与BSDF的关系 WxtB:7J
由PSD推导BSDF }|c-i.0=
拟合BSDF测量数据 :ee'|c
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 0F&(}`V
4.3 来自颗粒污染的散射 8` WaUB%
来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) o4aFgal1
颗粒密度函数模型 UGA``;f
案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 0!1cHB/c
4.4 来自黑处理表面的散射 5j5}c`:
4.5 孔径衍射 $n::w c
杂散光程序中的孔径衍射 - KaU@t
衍射元件的衍射特性 1f2*S$[*L
案例:衍射杂散光分析 QGXR<