摘要
R0d|j#vP EC#10. 扫描
干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光
光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的
显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。
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.WE0T|qDX 94@!.11 建模任务
(UXB#I~ uhLmyK rep"xV&|>o 仿真干涉条纹
6D(m8 kl"Cm`b) q~_jF$9SX 走进VirtualLab Fusion
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