[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 &N^^[ uG  
e.<y-b
?  

图片:1-2001131145515B.png

N4z(2.  
vi:IO  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 `VB]4i}u  
K$K6,54y  
建模任务  | D?lF  
|` +G7?)Y  

图片:1-20011311463NK.png

GNI
ZHyT(O  
TGe)%jZ  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 w)u6J,  
DQ a0S7I  

图片:1-200113114J9335.png

Z\@m_/g  
m:{ws~
  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 8&0+Az"{O  
'&<T;V%  

图片:1-200113114Q3324.png