[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 ?0+g.,9  
'ShK7j$  

图片:1-2001131145515B.png

]bpgsW:Xu  
/5j5\F:33  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ~gNFcJuy  
T5.^ w  
建模任务 )E^4U9v),  
_jgtZ  

图片:1-20011311463NK.png

#V#!@@c;?  
've[Mx  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 #reW)P>  
?N!kYTR%}
 

图片:1-200113114J9335.png

4fjwC,,  
g0B%3v  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 rK:cUW0]X  
'U0W  

图片:1-200113114Q3324.png