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摘要 N?krlR 8!u8ZvbFG
)%]`uj>*[ P|4qbm4%O, 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 pcjb;&< $oU40HA)W] 任务说明 E]j2%}6Z% 0*}%v:uN9
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\8= 多重光源 kA%"-$3 HCTjFW>C 0NMekVi 6+Wkcrh 螺旋相位板 %>Y86>mVz _0(Bx?[h
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d4#jV ei yYM_ 探测器插件 KZ;Q7 1 yDW$v/j.|
7BDRA},o jLu`DKB 参数运行 ^q=D!g ;.4A,7w#
G 0;5I_D/ dJ}E,rW} 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 4#^?-6 lYq4f|5H}m Usage of the Parameter Run Document Z U^dLN-N <_~>YJ 非时序建模 io{uN/!X_J 1^4z/<ZWm
ni$S@0 x{';0MkUV 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 >u:t2DxE 5s'oVO*hW Channel Setting for Non-Sequential Tracing )|?s!rw + DlWnz- 总结 – 组件… }+fMYgw 8~>5k
5_MqpCL b=Y:`&o=[
r-];@ TsB"<6@!AA 系统观感 |_^A$Hv >5Rcj(-&l
,@1.&!F4it ~;*SW[4 0*F{=X~L 发射&损耗激光 SCZ6:P"$qX RS>;$O_(M
`N69xAiy ?zD?- 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 _*I@ J/ 3.
kP, Q8kdX6NMd& 3D STED 轮廓 ?{OB+f}Mo &Q85B q
+v`?j+6z QKAo}1Pq 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 0~5'O[NhF X(Wd 受激发射损耗效应 !e}LB%zf v ;q<h 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 I-QaR .UUY9@
o6PDCaT7 cnUYhxE+s VirtualLab Fusion 技术 H |1owmbD fg mIx
gdu8O!9) 19u'{/Y" 文件信息 rl0sN5n <9]9;
q^e4 &3SQVOW ~T 进一步阅读 u7oHqo` • Simulation of Multiple Light Source in VLF gRk%ObJGqm • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy I?l%RdGW \Qh{uk[ 市场图片 q\P"AlpC! :jol
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