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摘要 @]y{M; :)
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B" n8;G,[GM80 'EH 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 D@lAT#vA xRTg
[ 任务说明 9+N._u w|n?m :(S/$^ U SCI-jf3WN 多重光源 B4*X0x Z|cTzunp UtGd/\: -;/@;W 螺旋相位板 go%X%Os] ,G!_ SZ
x`=5l` KoQ_:` 探测器插件
5Ky9P z ,mE]?XyO pn_gq~5ng NkjQyMF 参数运行 |V~(mS747: d)17r\*>I )*$ 8HH.P`Vk# 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 9B6_eFb ).O2_<&?F Usage of the Parameter Run Document |"tV["a te)g',#lT 非时序建模 i$LV44 !i"9f_ ]K0,nj*\c U}vtVvx 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 l`5}i|4KTW V@+<,tjq Channel Setting for Non-Sequential Tracing ^x1D]+ Kjca>/id 总结 – 组件… tB(X`A.| ywsz"/=@ i7w}`vs UXdC<(vK raI~BIfe ?'$.
-z: 系统观感 3Ns:O2| lj}1'K@M )*L?PT /RULPd
PH 8-g$HXqs_# 发射&损耗激光 gu.))3D9 nrD=[kc!w #<V'gE h|/*yTuN.y 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 &B5Rzz-' 9787uj]Y}H Hd@T8 D*A 3D STED 轮廓 r'JK$9 b!tZ bX# r@V(w` +WEO]q?K 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 8#JyK+NU RkXLE"G' 受激发射损耗效应 -3XnK5 (S93 %ii 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 6I.+c ; >hPHx AxqTPx7`| [`nyq ) VirtualLab Fusion 技术 Q ]koj!mMl 9lwo/(s HBkQ`T 9mtC"M<
文件信息
kd2'-9 l[j0(T _xwfz]lb+ C&K(({5O 进一步阅读 Vblf6qaBs • Simulation of Multiple Light Source in VLF ea;c\84_N • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy :95_W/l pDS4_u 市场图片 bX1! fa #+Gs{i Xr i*rv_G|(Zj
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