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摘要 qk!")t iv@ey-,< E{+V_.tlu T v2d?y 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 CJ0{>? t:|knZq 任务说明 ~Iw7Xq E2 Bs7/<$9K/ 7L68voC@U F#d`nZ=M 多重光源 x
xMV2&,Jq hS(}<B{x! #J&45 cZ>h [XX[ 螺旋相位板 i`#5dIb ]3UEju8$ ^=kUNyY rfj>/?8!@ 探测器插件 ~@g7b`t=la hbfTv;=z c~j")o )y8 u+5^ 参数运行 9&(d2 Y [8~M8QX Ej|rf Y W !.F\H,( 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: iBlZw%zKP u17e Usage of the Parameter Run Document X'BFR]cm FwD"Pc2 非时序建模 'L$%)`;e ks{y=@<, dS9L( &
ey4RKk, 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ^eu={0k ]r6S|;: Channel Setting for Non-Sequential Tracing ``
!BE"yN !yxb=>A 总结 – 组件… dw6U} lN@SfM4\ T_T@0`7 7Q_AZR4 rK^Sn7 U /F/zMZGSA{ 系统观感 T4H/D^X| bo>4:i o{C7V* Z+# =]Kw) UvR F\x% 发射&损耗激光 x+1Cs$E; TV^m1uC V(/ @$& ,_ zivUU 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 |ATz<"q> u;-_%?
S xn# 3D STED 轮廓 QOb+6qy:3 ?_hKhn%K9
*RPdU. fV}: eEo|Y 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 H);O. m dS+/G9X^ 受激发射损耗效应 .TI=3*`G 12W`7 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ! };OLQ u1@&o9 6p;G~,bd~ |Z), OW VirtualLab Fusion 技术 ;"d>lyL |@Cx%aEKU %
~!A, \w;d4r8x 文件信息 G[;GP0\N U04TVQn` HUP~ Nft~UggK 进一步阅读 S-^:p5{r • Simulation of Multiple Light Source in VLF wW.V>$q • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy H<Ne\zAv QQ*`tmy 市场图片 E.ugr]) XBvJc'(s \B72 #NR
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