价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 f&{2G2 O%
课程共三十节 \7gLk:
课程简介：
#,! .e 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
mNcTO0p& 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
?L{[84GSO 课程大纲：
%4+r & 1. 软件基础入门
ur*1I/v 软件简介
\t^q@}~0Wz 软件计算方法简介
qBKIl=
ne 程序基本框架和全局
参数设置
7c4\'dt# 程序中使用的各种术语的定义
r+ v*(Tu 
yy/w Sk 2. 图表
p0'A\@| 绘图和制表来表示性能
6^UeEm jc 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
e[w)U{|40 交互式绘图的使用
b_\aSEaTT 3. 材料管理
4wBMBCJ;P 材料的获取
e~nmIy 材料的导入与导出
Qmzj1e$6x 材料数据平滑与插值
(K^9$w]tf 用包络法推导介质膜的光学常数
jIAl7aoY 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
_YO ` x 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
X#gZgz =' 4. 薄膜设计与优化简介
N`8?bU7a}" 优化与合成功能说明
m{gt(n 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
f:Ju20D 膜层锁定和链接
CKNH/[ ZR, 减反膜优化
Uhb6{'+ 高反膜优化
$&k zix 滤光片优化
+a nNp y 斜入射光学薄膜
9[6xo! 5. 反演工程
_%z)Y=Q 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
?<xGO@b
. 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
73 D|gF* 6. 分析工具
!u>29VN 颜色模型和分析工具
p24sWDf 公差工具和良品率预估
5NBc8h7 V 灵敏度分析
l|U=(aA]h 7. 附加模块-Vstack
URX>(Y}g9^ 非平行平面镀膜
!-LPFy> 棱镜镀膜透反吞吐量评估
q
( H^H 8. 附加模块-DWDM
IkL|bV3E0 光通信用窄带滤光片
模拟 )uZ<?bkQ 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
&tHT6,Xv( 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
tlI3jrgw 镀膜沉积过程噪声信号模拟
"7Zb)Ocb 10. 附加模块-Function
6&$z!60 如何在Function中编写脚本
UH.M )br 案例：自定义画图
(9fq UbG 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
_"## p 案例：膜厚变化颜色变化
