价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 5vD\?,f E
课程共三十节 U$DZht4>u
课程简介：
h7 ZH/g$) 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
+uF}mZ S^ 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
/Q9Cvj)" 课程大纲：
s8 A"x`5( 1. 软件基础入门
Vxrj(knck, 软件简介
w8 S
pt 软件计算方法简介
V* JqC 程序基本框架和全局
参数设置
tMdSdJ8 程序中使用的各种术语的定义
R%LFFMVn 
#/I+[|=[O 2. 图表
Q7pCF,; 绘图和制表来表示性能
Msvs98LvW 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
N
(\n$bpTt 交互式绘图的使用
ox<6qW 3. 材料管理
nGTGX 材料的获取
CUTjRWQ 材料的导入与导出
3;b)pQ~6CJ 材料数据平滑与插值
UazK0{t<f 用包络法推导介质膜的光学常数
e4_A`j' 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
(Of`VT3ZOA 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
:xmj42w>^ 4. 薄膜设计与优化简介
m{> " 优化与合成功能说明
x]Nx,tt 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
g_PP 9S_? 膜层锁定和链接
fb0)("_V 减反膜优化
(MqQ3ys 高反膜优化
/xSJljexz 滤光片优化
$EIKi'!8 斜入射光学薄膜
73 1RqUR 5. 反演工程
i .K!;E> 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
Xa-TNnws? 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
*EO*Gg0d 6. 分析工具
|0p@'X1 颜色模型和分析工具
w"D1mI!L
7 公差工具和良品率预估
+MY rNR.p 灵敏度分析
08AD~^^ 7. 附加模块-Vstack
lZkJ<*z# 非平行平面镀膜
( !m6>m2 棱镜镀膜透反吞吐量评估
c#u_ %* 8. 附加模块-DWDM
=> o ! 光通信用窄带滤光片
模拟 Qa9@ Q$ 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
v}5YUM0H ` 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
i,;a( Sy4 镀膜沉积过程噪声信号模拟
r4K _W p 10. 附加模块-Function
%Y /;jC Y 如何在Function中编写脚本
[T'[7 Z 案例：自定义画图
1QhQ#`$<1 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
3KeY4b!h 案例：膜厚变化颜色变化
