价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 YH,u*.I^/
课程共三十节 Sa9p#OQ
课程简介：
N{&Hq4^c 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
*@ eZt*_ 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
%CV.xDE8 课程大纲：
9 GgXX9K 1. 软件基础入门
uskJ(! 软件简介
/0YO`])" 软件计算方法简介
^&7gUH*v 程序基本框架和全局
参数设置
Yn5a4 程序中使用的各种术语的定义
-Oplk* 
7r{159&= 2. 图表
9j>LU<Z 绘图和制表来表示性能
2 4I\smO 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
GK&R,q5} 交互式绘图的使用
~m3Tq.sYrY 3. 材料管理
P T H'-G 材料的获取
| t6 :4'] 材料的导入与导出
Ksf f]##H 材料数据平滑与插值
2*@@Bw.XA 用包络法推导介质膜的光学常数
u=
Vt3%q 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
?wVq5^ e 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
P?|>,
\t 4. 薄膜设计与优化简介
} k0B 优化与合成功能说明
%9OVw #P 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
ZC97 Z sE 膜层锁定和链接
WelB"L 减反膜优化
v[]&yD 高反膜优化
mvu $ 滤光片优化
&?*H`5#?G 斜入射光学薄膜
1T
8|>2m 3 5. 反演工程
\ZtF,`Z 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
'3]M1EP 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
9'0v]ar 6. 分析工具
Q#PkfjXS 颜色模型和分析工具
$D m|ol.Z 公差工具和良品率预估
a{\<L/\ 灵敏度分析
;<H\{w@D 7. 附加模块-Vstack
;4<!vVf e 非平行平面镀膜
%I#[k4 ,N 棱镜镀膜透反吞吐量评估
BM[jF=0 8. 附加模块-DWDM
|3C5"R3ZGO 光通信用窄带滤光片
模拟 do DpTwvh 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
W[qQDn!r 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
Xcb'qU!2-^ 镀膜沉积过程噪声信号模拟
+jyWqld.K1 10. 附加模块-Function
lbm ,# 如何在Function中编写脚本
J0 UF( 案例：自定义画图
H'?dsc 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
"qhQJql 案例：膜厚变化颜色变化
