价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 Sd+bnq%
课程共三十节 !U 4<4<+
课程简介：
_:~I(c6 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
}fh<L CwTi 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
,dXJ CX8so 课程大纲：
P d04 1. 软件基础入门
0F9p'_C 软件简介
%! [3?|8~ 软件计算方法简介
E-Y4TBZ* 程序基本框架和全局
参数设置
>b2wFo/em 程序中使用的各种术语的定义
odh cU5 
v /x~L$[ 2. 图表
HUalD3
\ 绘图和制表来表示性能
uU JH^pW 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
/&+*X )#v 交互式绘图的使用
GS+Z(,J>= 3. 材料管理
Jsf"h-)P 材料的获取
d[`vd^hI 材料的导入与导出
_*fOn@Vwo 材料数据平滑与插值
ndHUQ$/( 用包络法推导介质膜的光学常数
{'z( 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
GD0Q`gWNe 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
+ d=w%r) 4. 薄膜设计与优化简介
2Z +:^5 优化与合成功能说明
jJyS^*.X 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
d8.A8<wUr 膜层锁定和链接
^NXxMC( e+ 减反膜优化
M`p[ Zq 高反膜优化
_B7+n"t\r 滤光片优化
{ep.So6 斜入射光学薄膜
r <5i 5. 反演工程
p(. z#o# 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
dfT 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
om2)Cd9~7 6. 分析工具
<+_WMSf;4 颜色模型和分析工具
!OV+=Rwdx 公差工具和良品率预估
@ RP?)*8}& 灵敏度分析
@1s
2# )l( 7. 附加模块-Vstack
S |r,RBeZ
非平行平面镀膜
sFw;P` 棱镜镀膜透反吞吐量评估
yq12"R s 8. 附加模块-DWDM
(? 1 /\r 光通信用窄带滤光片
模拟 9k;%R5( 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
eI1C0Uz1
光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
o^W.53yX 镀膜沉积过程噪声信号模拟
FD/=uIXH2 10. 附加模块-Function
R5=M{ 如何在Function中编写脚本
Xa$-Sx 案例：自定义画图
RMlx[n sq 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
q9(Z9 $a(\ 案例：膜厚变化颜色变化
