价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 bAt!9uFn
课程共三十节 _/ P"ulNb
课程简介：
ZVgR7+`]# 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
+xFtGF) 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
&Lk@Xq1 课程大纲：
L.ndLd 1. 软件基础入门
>p2v"X X 软件简介
3l<)|!f]g 软件计算方法简介
&A=d7ASN= 程序基本框架和全局
参数设置
_17c}o#`5w 程序中使用的各种术语的定义
nolTvqMT 
]N2'L!4|; 2. 图表
AY,6D dw
绘图和制表来表示性能
&=@ R, 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
V>4 !fD= 交互式绘图的使用
UU$ +DL 3. 材料管理
w.^k':," 材料的获取
//K]zu 材料的导入与导出
7A3 e-51 > 材料数据平滑与插值
m6+2r D 用包络法推导介质膜的光学常数
tJ2l_M^ 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
KDg!Y(m{ 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
|'Ve75 W6u 4. 薄膜设计与优化简介
E5-8tHV 优化与合成功能说明
^
chlAQz( 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
L$l o5 膜层锁定和链接
!OC?3W:^_ 减反膜优化
DCP " 高反膜优化
tH17 Z 滤光片优化
q'",70"\ 斜入射光学薄膜
Lu1>A {et 5. 反演工程
aH, 0 + | 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
};29'_.."x 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
tul5:} x3 6. 分析工具
zSDiJ$Xk 颜色模型和分析工具
TS-m^Y'R 公差工具和良品率预估
pr@8PD2% 灵敏度分析
]+d.X] 7. 附加模块-Vstack
7-6_`Q2}Y 非平行平面镀膜
@2kt6
W 棱镜镀膜透反吞吐量评估
{lx^57v 8. 附加模块-DWDM
~) sb\o
光通信用窄带滤光片
模拟 3Mr)oM< Q 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
3U1x KF 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
ikyvst>O 镀膜沉积过程噪声信号模拟
vnXpC!1 10. 附加模块-Function
w}oH]jVKL6 如何在Function中编写脚本
g&riio7lx 案例：自定义画图
j"}alS`- 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
4)Z78H%> 案例：膜厚变化颜色变化
