价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 8
H,_vf
课程共三十节 >s44
课程简介：
<xXiJU+ 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
i'U,S`L6> 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
0 PR4g}" 课程大纲：
Z4=_k{* 1. 软件基础入门
tP &{ J^G 软件简介
gv`%Z8u( 软件计算方法简介
}R4(B2v up 程序基本框架和全局
参数设置
ZDW,7b% U 程序中使用的各种术语的定义
D` 1I;Tb# 
)J{.Cx<E 2. 图表
/\6}S G; 绘图和制表来表示性能
$_ST:h&C 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
E PQ&?[6 交互式绘图的使用
oZ?IR#^ 3. 材料管理
[O.LUR; 材料的获取
22l|!B%o 材料的导入与导出
>+zAWK9 材料数据平滑与插值
J 11 dqj 用包络法推导介质膜的光学常数
8'' 9 @xz 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
YhEiN. ~ 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
Iz 1*4@ 4. 薄膜设计与优化简介
[3 Wsc`Q 优化与合成功能说明
['Hp? Q|k 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
8 h55$j 膜层锁定和链接
,)0/Ec 减反膜优化
C~3@M<X 高反膜优化
V 22q*/iV 滤光片优化
L& +% Wd~ 斜入射光学薄膜
`HE>%=]b 5. 反演工程
95_[r$C 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
#p11D=
@[ 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
%:yHMEG]' 6. 分析工具
B iVd
ka 颜色模型和分析工具
H[>klzh6
! 公差工具和良品率预估
K *
xM[vO 灵敏度分析
J"m%q\' 7. 附加模块-Vstack
V2WUM+`uT 非平行平面镀膜
ctnAVm 棱镜镀膜透反吞吐量评估
g?k#wj1uH 8. 附加模块-DWDM
3 C E 39W 光通信用窄带滤光片
模拟 Sn{aHH 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
7J #g1 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
iKR8^sj7S 镀膜沉积过程噪声信号模拟
3j [w
-Lfp 10. 附加模块-Function
RZcx4fL }x 如何在Function中编写脚本
m-~V+JU;x 案例：自定义画图
r"Hbr Qn 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
3G:NZ) p 案例：膜厚变化颜色变化
