价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 s/ t11;
课程共三十节 y(}Eko4u5
课程简介：
s"coQ!e1. 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
~RInN +N# 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
SO3cY#i
z" 课程大纲：
(' 4wXD]C 1. 软件基础入门
! Mo`^ t 软件简介
L M
/Ga 软件计算方法简介
iP#=:HZu; 程序基本框架和全局
参数设置
+/y]h 0aa 程序中使用的各种术语的定义
+c) TDH 
QPs:R hV7 2. 图表
=X@o@1 绘图和制表来表示性能
_mk5^u/u 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
H\#:,s {1 交互式绘图的使用
)Gb,^NGr 3. 材料管理
o @KW/RN" 材料的获取
f { ^:3"i 材料的导入与导出
"Pj}E=!k 材料数据平滑与插值
opD-vDa h 用包络法推导介质膜的光学常数
74f9|~% 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
7ZsA5%s= , 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
[/$N!2'5 4. 薄膜设计与优化简介
{G*OR,HN 优化与合成功能说明
QDE$ E.a 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
@G*. 1;jO 膜层锁定和链接
QVtM.oi!Q 减反膜优化
AVFjBybu9 高反膜优化
eW50s`bKY 滤光片优化
Uu'dv#4 Iw 斜入射光学薄膜
|=5/Rax ^ 5. 反演工程
CT*,<l-D 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
9 Cvn6{ 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
|" 7 Y52d 6. 分析工具
6ep>hS4A& 颜色模型和分析工具
62\&RRB
i 公差工具和良品率预估
{rXs:N@ 灵敏度分析
_~M^ uW^ l 7. 附加模块-Vstack
&=Y e6 f[ 非平行平面镀膜
^E,1V5 棱镜镀膜透反吞吐量评估
0m)&Y FZ[( 8. 附加模块-DWDM
-^SA8y 光通信用窄带滤光片
模拟 WG5W0T_ 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
s bS~N*{E 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
\#6Fm_b] u 镀膜沉积过程噪声信号模拟
Yc;ec9~ 10. 附加模块-Function
XU mR{ A 如何在Function中编写脚本
d,9`<1{ 9 案例：自定义画图
>EP(~G3u 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
AGq>=avv 案例：膜厚变化颜色变化
