价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 lET)<V(Y
课程共三十节 6wd]X-G++
课程简介：
)aC+qhh 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
6~8
RFf" 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
2G-?
P"4l@ 课程大纲：
E+)Go-rS( 1. 软件基础入门
y2U:( H:l! 软件简介
6,)y{/ENC 软件计算方法简介
bpx=&74,6m 程序基本框架和全局
参数设置
j<KC$[Kt 程序中使用的各种术语的定义
IYO,/ kbf 
\nHlI=!P 2. 图表
3a qmK.`H 绘图和制表来表示性能
h+W^k+~( 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
d0=nAZZ 交互式绘图的使用
.'a |St 3. 材料管理
xY S%dLE" 材料的获取
[G P( r 材料的导入与导出
aOHCr>po, 材料数据平滑与插值
H_j<%VW 用包络法推导介质膜的光学常数
16>uD;G 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
oB\Xl)A< 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
1IV
0a 4. 薄膜设计与优化简介
xAjQ W= 优化与合成功能说明
9C$!tz>>+i 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
6a?y $+pr 膜层锁定和链接
"(N HA+s/ 减反膜优化
r+\z0_'
w6 高反膜优化
r$F]e]Ic\ 滤光片优化
.vv*bx
斜入射光学薄膜
752wK|o0|; 5. 反演工程
h9I )<_}R 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
C6VoOT )\ 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
\uk #pL 6. 分析工具
{K:Utdu($q 颜色模型和分析工具
!Ia"pN Df 公差工具和良品率预估
pPZ/ O 6 灵敏度分析
j '' Iai_ 7. 附加模块-Vstack
i .N1Cvp& 非平行平面镀膜
'y?|shV{] 棱镜镀膜透反吞吐量评估
gDub+^ye>/ 8. 附加模块-DWDM
>, E $bm2 光通信用窄带滤光片
模拟 ymZ/(:3_ 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
J31M:< 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
S=}~I 镀膜沉积过程噪声信号模拟
SR&
mHI-f0 10. 附加模块-Function
a<wZv-\Vau 如何在Function中编写脚本
E aD@clJS 案例：自定义画图
/6?plt&CA 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
bU N,P" 案例：膜厚变化颜色变化
