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摘要 _P]!J~$5 %}*0l8y 49("$! W6>SYa Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 },=0]tvZG# nHB=*Mj DV 建模任务 uKBSv*AM mm5y'=# @^)aUOe 具有高反射(HR)涂层的标准具 C<?Huw4R0 +-B`Fya ^ld?v w|uO)/v 图层矩阵解算器 UI,i2<& W?B(Jsv E9yBa=#*c v\UwL-4[ {_]'EK/w 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Po:)b 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 # XD-a 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 -a}d
@& 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 08!pLE 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 /W6r{Et 71h?t`N 更多的信息: t`XYY f#W5Nu'*! 总结-组件 ~
}<!ON; TyCMZsvM, P
K]$D[a0 SgOn:xg;3L V0Z\e
_I 两条光谱线的可视化 j3W)5ZX dUTF0U H9^DlIv(' 精细vs.涂层反射率 O-M4NKl]6 ZXf^HK vIoV(rc+ K`9ph"(Z 精细度vs.涂层反射率 r#K;@wu2 5Y4i|R "o*zZ;>^ 内部谐振增强 U*Hw
t\ }wJDHgt]-p 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 <V3N!H_d 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 DJtKLG0 }a(x
L'F 注意: 传输值取自艾里图案的中心 ZjE!?
'(ef l"\W] 'T:r VirtualLab Fusion技术 ?5%|YsJP_ zk[%YG& 31n5n
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