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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 @Rg/~\K  
    l\f*d6o  
                          
    <'}YyU=  
    dR K?~1  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 +<'Ev~  
    <3L5"77G 6  
    建模任务
    'Oxy$U   
    "H2EL}3/]  
    Lk|hQ  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 JX<)EZ!F  
    %Wg'i!?cB  
    8aZ=?_gvT  
    bUs0 M0y  
    图层矩阵解算器 i)\ L:qF5  
    3\AU 72-  
    QZ!Y2Bz(4  
    ~cWAl,(B<F  
    /pm]BC  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 rDl*d`He!  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 }#3V+X  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 P)"noG_'i  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /Jta^Bj  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    e4-@ f%5  
    y+Ra4G#/}  
    更多的信息: W=lyIb{?^0  
    iyN:%ofh  
    总结-组件 ~W*FCG#E  
    8<5]\X  
    `K*Q5n  
    &)2i[X  
    z__EYh  
    两条光谱线的可视化 N%kt3vmQ_  
    ; a/X<  
    9K.Vb1&  
    精细vs.涂层反射率 :1^LsLr5  
    5]~'_V  
    2uz W+D6J  
    <5d ~P/,  
    精细度vs.涂层反射率 a Ve'ry  
    &\#sI9  
    r`=+L-!  
    内部谐振增强
    f< ia(d  
    i3dkYevs?  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 -] LY,M  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 4hO!\5-w:  
    ~Uu4=  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 $>G8_q  
    QFE:tBHe  
    VirtualLab Fusion技术 {mm)ay|M  
    fA&k`L(y  
    hmvfw:Nq4  
     
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