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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 myFAKRc  
    8P' ana  
                               k0z&v <  
     UL@9W6  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 9SQ4cv*2  
    Q%S9fq,q  
    建模任务     wBk@F5\<  
    bO5k6i  
    ]bdFr/!'S+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 >ezi3Zx^  
    @Yw,nQE)b  
     .4y>QN#VL  
    Y]|:?G7l]  
    图层矩阵解算器 E-5_{sc  
    xw^.bz|  
     P$GjF-!:  
    &[mZD,  
    ` Nh"  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 cE'L% Z  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 6vKS".4C  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 K0pac6]  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 wN-i?Ek0;  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     |]=2 }%1w  
     u6u=2  
    更多的信息： yL4 T  
    K5t0L!6<+  
    总结-组件 "6ECgyD+E!  
    G9P!_72  
    /t<@"BoV  
     TJ8E"t*)  
    /\s}uSW  
    两条光谱线的可视化 [%A4]QzWh  
    ]q5`YB%_  
     4\ c,)U}  
    精细vs.涂层反射率 \VMD$zZx  
    7}O.wUKw%  
    Z(>'0]G  
    pE.PX 8  
    精细度vs.涂层反射率 G$zL)R8GE|  
    SAV%4  
    qm*}U3K  
    内部谐振增强     2Se?J)MN  
    v60^4K>  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Z=5qX2fy1*  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3Ug  
    r`S< A;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ^i)hm  
    i`(^[h ?;  
    VirtualLab Fusion技术 s pLZ2]A  
    6(|d|Si *c  
     C`jM0Q  
     
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