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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-06-28
    摘要 |@ldXuYb  
    =u'/\nxCF  
                               [ThzLk#m  
    rSJ}qRXwU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 A.h?#%TLL  
    8U(a&G6gn  
    建模任务     l:|Fs=\  
    n9J>yud|  
    _:K}DU'6  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 >b$<lo  
    <bjy<98LT  
     hy]AH)?pR  
    /Z@.;M  
    图层矩阵解算器 *ap#*}r!Nk  
    z::2O/ho  
     4dok/ +Ec  
    .XE]vo  
    (,TO|  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 PA=BNKlH  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 \c\=S  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 #rC/y0niH  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 /<2_K4(-{4  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ]e3nnS1*.  
    dog,vUu  
    更多的信息： h/k`+  
    xD#/@E1'Y  
    总结-组件 n^%u9H  
    n$?oZ *;  
    w:N2 xI  
     )~n}ieS  
    'oEmbk8Hg  
    两条光谱线的可视化 gJ7$G3&oZg  
    evR=Z\ _  
     z?aD Oh  
    精细vs.涂层反射率 cs5Xd  
    \wCL)t.cX  
    ,@;<u'1\G  
    2uHp%fv;  
    精细度vs.涂层反射率 `Qhh{  
    #n7{ 3)   
    -+=8&Wa  
    内部谐振增强     wf4Q}l2,d  
    {8MF!CG]  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 : L>d]Hn  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 W{h7+X]Y  
    DNy)\+[  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 UGMdWq  
    *Tlv'E.M  
    VirtualLab Fusion技术 vKt_z@{{L  
    %Fv)$ :b  
     E*l"uV  
     
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