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&gJ@"`r4 1、杂散光分析与控制设计 Y5B!*+h [/td][/tr][tr][td]
B|+%ExT7 授课时间:2023年6月5日(一)-7日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
Ol<LL#<j4 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
gkq~0/ 课程讲师:讯技光电高级工程师
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课程费用:4800(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)[/td][/tr][tr][td]
课程简介:[/td][/tr][tr][td]
N1'Yo:_A 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,B S D F与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。[/td][/tr][tr][td][/td][/tr][tr][td]
课程大纲:[/td][/tr][tr][td]
.i*ja* 1. 杂散光介绍与术语 3UZ_1nY 1.1 杂散光路径
V~5vR`} 1.2 关键面和
照明面
M195[] 1.3杂光内部和外部杂散光
eb,QT\/G 2. 基本辐射度量学-辐射 iEy2z+/"^ 2.1 B S D F及其散射模型
d(9Sk Xr 2.2 T IS总散射概念
v<g#/X8 2.3 PST(点源透射比)
R`@7f$;wG 3. 杂散光分析中的光线追迹 jv1p'qs4
?duw0SZ 3.1 FRED软件光线追迹介绍
aO9\8\^ 3.2构建杂散光模型
A e2Y\ sAV 定义光学和机械几何
[xDIK8d:I 定义光学属性
upJy,|5 3.3 光线追迹
3W.D^^)eCV 使用光线追迹来量化收敛速度
*laFG<; 重点采样
t*6C?zEAU 反向光线追迹
0tMzVxS 控制光线Ancestry以增加收敛速度
^{++h?cS) 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
{4p7r7n' 使用GPU来进行追迹
I/v#!`L RAM内存使用设置
_+}hId 4.散射模型 d)XT> & 4.1来自表面粗糙的散射
iU~d2R+ 低频、中频、高频
irjHPuhcG 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
eU-A_5 4.3 来自颗粒污染的散射
|c-`XC2g 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
?9 `T_, 颗粒密度函数模型
|Q?$n3-f" 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
mt e3k=17 4.4 来自黑处理表面的散射
8-b~p 4.5 孔径衍射
n
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