本书系统地介绍了
光学系统像质评价方法以及光学测量的主要知识。全书内容可以分为两个部分:部分是
光学系统像质评价,介绍了光学系统的像质评价各种指标以及在
光学设计软件Zemax中的具体应用;第二部分是光学测量,介绍了光学测量中的对准与调焦技术、
焦距测量、星点检验、分辨率测量等基本光学测量技术,测角技术、准直自准直技术及干涉测量等内容。
xb%Q[V_m qo7<g*kf~ 本书是信息技术、光学工程、测控技术与仪器等专业本科生的专业课教材,也可作为相关专业研究生教材及从事光电仪器设计和研制的专业人员的参考书。
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R.2i%cU YpXd5;'
0^Vw^]w 5+!yXkE^e 目录
Te~jYkCd 第 1章 光学系统像质评价方法001
7Hv6>z#m lK7:qo 1.1 概述002
0tL5t7/Gr f4*(rX 1.2 光学系统的坐标系统、结构
参数和特性参数003
EPLHw /m;Bwu 1.3 检测阶段的像质评价指标——星点检验009
j^8HTa0Cy| Og1\6Q 1.4 检测阶段的像质评价指标——分辨率测量013
H_3WxfO a@&qdp 1.5 几何像差的定义及其计算017
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