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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 E#F9<=mA) Y\9*e5?`I3 -3%)nV %oKc?'L0 建模任务 V+<AG*[ *SG2k .$ !U~#H_ v.&*z48 zc~xWy+ 准直系统 ]f @LhC1x nZ+5@(
* <hC3#dNRd ITY!=>S- 非序列追迹 >{)#|pWU W%ZU& YBc IMw)X0z #$rT 4Nc; 总结—元件… i1\ /\^ JkDZl?x5 HD^~4\% !w\;Q8irN f]65iE?x Im1qWe 系统光线追迹结果 mqc Z3lsv d?X6x @[Qg}'i $ttr_4= 完美的减反射(AR)涂层 \@"
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