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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 cj'}4( Tap.5jHL O2%? (j3xAA 建模任务 ,^ . 88< 3 C<L l.NEkAYPmH
ZP\-T*)l$ @dPTk"P 准直系统 #/<&*Pu5t EKsT~SS n+A?"`6*# n' q4 非序列追迹 jGpN,/VQa ~2QR{; XQ
\}"$ ?d'f t~#zMUfac 总结—元件… E{Ov>osq "C{}Z [8*jw'W|[ e3nYbWBy]
pw)||Q r[b(I@T+ 系统光线追迹结果 IV\'e} w.YiO5|y G?;e-OhV |6K+E6H 完美的减反射(AR)涂层 U<_3^ YH\OFg@7 noml8o 0dGAP
有内部反射 JSCZ{vJ$ ?7.7`1m!v
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