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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 fFsA[@5tul :imp~~L; H3&$: h HQ]g{JVld\ 建模任务 &u.t5m7( Wz9 }glr %rYd=Ri
n&&X{Rl 1{_;`V 准直系统 D;m>9{= $+-2/=>Xk hbn2(e;FZ $O=m/l$ 非序列追迹 06L/i, (oxe'\
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