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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 |HI=ykfI F4>}mIA c, \TL
] I5>HB;Q 建模任务 eI; %/6# >Be PE(k a*6x^R;)
Fe%Q8RIh_ *-T3'beg 准直系统 BgJ;\NV N \[Cuh8Fe $}2m%$vJO AF ZHS\ 非序列追迹 .RH}/D cIK-VmO
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i ;y<gm" 5R?iTB1, 系统光线追迹结果 rOE[c -lRXH7|X 7=u\D KR%p*Nh+C 完美的减反射(AR)涂层 X3%7VFy9 G#@o6r Nj*J~&6G ?Q="w5OOD 有内部反射 M/:kh,3 \;I%>yOIu
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