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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 L%WME8PB '(*&Ax f]ue#O skI(]BDf 建模任务 p?V?nCv1O 6QII&Fg g8I!E$
DikdC5>O>m \TbsoWX 准直系统 |.(CIu~b Y$`eg|$ KZF0rW [0&'cu> 非序列追迹 I/On3"U% '%SR. JL
PFS;/ |DE%SVZB 总结—元件… SOp=~z skIiJ'db ^kn^CI6 iuC7Y|
(#6AKr9K MzQ\rg_B7 系统光线追迹结果 (#!]fF"!x wjTNO0hj +VCo$o 0n:?sFY> 完美的减反射(AR)涂层 o"p^/'ri ryxYcEM0 KVB0IXZC~ YijMF/Uyb 有内部反射 #:J:YMv /O|:{LQ
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