-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-08-05
- 在线时间1977小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 t\-|J SZ c$x>6&&L 73JrK_h QW_BT^d" 建模任务 a\}`
f=T S|F:[(WaM gt\kTn."
nO#x" Re*_Dt=r 准直系统 'V\V=yc1 }s[`T 6FY.kN\
}b]eiPWN 非序列追迹 `1uGU[{x Pbt7T
Q
l#Vg=zrT g.\%jDM 总结—元件… )y{:Uc\4! J$lfI^^ W}#n.c4+ MaPI<kYQv
]E6r)C 0{ 系统光线追迹结果 _fSBb< j4u
["O3 .y lvJ$ qae|?z 完美的减反射(AR)涂层 MGY0^6yK5 '_5|9
} AH_qZTv0{Q
F@mxd 有内部反射 v]Aop<KLX X4{<{D`0t8
=2}V=E/85
|