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光学测量＞显微 #a=]h}&1? 5%2~/
" 任务/系统描述 4A@HR .t\J @?Z
 Z0Sqw B0b|+5WhR 亮点 _m?i$5
d~QKZ& jf
 N Os00 H I*TTD]e'X 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 d [l8qaD 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 CrI<rD%' 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 /E<Q_/'Z ThX3@o 说明：光源 VQ('ejv}/ aU;X&g+_)  }}k%.Qb 3\Xk)a_ 说明：透镜系统 (.N n|lY<i h<?Px"& J  7fypUQ:y
9<rs3 84 说明：样品结构 u|wl;+. T^^7@\vDI  t }4 Wy-_}wqHg 说明：探测器 4Mg%}/cC Y `22DFO  vh.8m $, m<j ;f 结果：3D光线追迹 OH>G c-V 8OOAPp$%|
 6P@K]jy& n !j7mY9x+ 结果：场追迹矩形光栅 K@ n- # R(0[bMr3Q  \1<aBgK i
=A,T:!}' 结果：场追迹锯齿形光栅 1ik.|T<f0  0B 1nk!F
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