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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 W;hI[9  
    XfY]qQP  
    任务/系统描述 fw-LZ][  
    t/y0gr tm6  
     =k&'ft  
    LdRLKE<'e  
    亮点 h],_1!0  
    aA\v  
     O*c +TiTb  
    >pn?~  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ^IC|3sr   
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m@TU2  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 !$&K~>`  
    @mw1(J  
    说明：光源 (Kx3:gs  
    jagsV'o2  
    4S+P]U*jW  
    1vQ*Br  
    说明：透镜系统 ,.DU)Wi?}  
    t*n!kXa  
    Wny{qj)=  
     539[,jH  
    说明：样品结构 rw58bkh6  
    :5p`H  
    RD,` D!  
    {:!*1L  
    说明：探测器 _W&.{ 7  
    6$`8y,TMSt  
    hoPCbjkov  
    3rOv j&2  
    结果：3D光线追迹 fF<~2MiKw  
    \vpUl  
     ofRe4 *\j  
    |"\A5v|1  
    结果：场追迹矩形光栅 "y#$| TMB  
    02?y%  
    I+ydVj(Op  
     $Z$BF  
    结果：场追迹锯齿形光栅 <Y<%=`  
    FzW7MW>\x  
     
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