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成像系统>包括光栅 !*_5 B' {1,]8!HBJ 任务/系统说明 +`O8cHx MQ>.^]B]o !$P+hX` RG1~)5AL~Y 亮点 KLK
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PYX]ld.E !g{9]"Z1T 在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) O *^= 严格分析光栅衍射效率 )y&}c7xW 考虑入射光的方向分布 ij i<+oul *$mDu,'8 说明:光源 H)tnxD0) \,| Xz|?C *T\-iICw U+gOojRy{ 说明:光束分束器 !m)P*Lw eV$pza 9|#YKO\\i +Gv{Apd" 说明:检测透镜系统 %"Tn=fZIF D.elE: 6yEYX'_ JbN@AX:% 说明:微型晶片 ^c",!Lp}{ D5x }V NfqJ>[}I+ qd\5S*Z1 说明:检测物镜 /Qi;'h] oo sbf#V >Hb>wlYR 3~ITvH,`s 说明:探测器 +mP&B<=H) :l<)p;\ NMq#D$T Vp{e1xpY 结果:3D光线追迹(只有0级) .XD7};g
*((wp4b v_-S#( \z"0lAv" 结果:3D光线追迹(所有级) :.KN;+tP q0|u vt" m>dZ n |tL57Wu93 结果:光线追迹 X :2%U #Hm*<s.
6f1%5&si Ckd=tvL 结果:场追迹 c"qaULY ~<b/%l>h1
~&-8lD];LM ~P&Brn"=Rs 结果:线性偏振光的场追迹 0 5eth ];BGJ5^j VxD_:USIF
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