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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 !*_5 B'  
    {1,]8!HBJ  
    任务/系统说明 +`O8cHx  
    MQ>.^]B]o  
    !$P +hX`  
    RG1~)5AL~Y  
    亮点 KLK '_)|CT  
    ]y= ff6Q  
    PYX]ld.E  
    !g{9]"Z1T  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) O*^=  
     严格分析光栅衍射效率 )y&}c7xW  
     考虑入射光的方向分布 ij i<+oul  
    *$mDu,'8  
    说明:光源 H)tnxD0)  
    \,| Xz|?C  
    *T\- iICw  
    U+gOojRy{  
    说明:光束分束器 !m)P*Lw  
    eV$pza  
    9|#YKO\\i  
    +Gv{Apd"  
    说明:检测透镜系统 %"Tn=fZIF  
    D.elE:  
    6yEYX'_  
    JbN@AX:%  
    说明:微型晶片 ^c",!Lp}{  
    D5x }V  
    NfqJ>[}I+  
    qd\5S*Z1  
    说明:检测物镜 /Qi;'h]  
    oo sbf#V  
    >Hb>wlYR  
    3~ITvH,`s  
    说明:探测器 +mP&B<=H)  
    :l<)p;\  
    NMq#D$T  
    Vp{e1xpY  
    结果:3D光线追迹(只有0级) .XD7};g  
    *((wp4b  
    v_-S#(  
    \z"0lAv"  
    结果:3D光线追迹(所有级) :.KN;+tP  
    q0|u vt"  
    m>dZ n  
    |tL57Wu93  
    结果:光线追迹 X :2%U  
    #Hm*<s.  
    6f1%5&si  
    Ckd=tvL  
    结果:场追迹 c"qaULY  
    ~<b/%l>h1  
    ~&-8lD];LM  
    ~P&Brn"=Rs  
    结果:线性偏振光的场追迹 05et h  
    ];BGJ5^j  
    VxD_:USIF  
     
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