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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 ^5TVm>F@3
g\.$4 N 关于此用例 D^ .
c: • 需要以下工具箱 p XN'vP - 基本工具箱 ug ;Xoh5w • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） \6 ? a • 在此处获得免费试用版 {R @ V 此用例展示了… ZBY2, %nAo • 如何构建GRIN透镜 @d 7V@F0d • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 (Ll'j0]k> U 887@-!3  Gvh"3|u ?z GRIN透镜的构建 +BL4 6 Bq =dKjTBR S'  L_vl%ii-
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k a_Fo GRIN透镜：GRIN介质 *DfOm`m vVa|E#
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rSPa \M 系统设置：探测器和连接 w@cW`PlF · 探测器说明： BPt? 3tC − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 j"h/v7~ v=lW5%r,'  >Q=^X3to SiX<tj#HH\ 仿真结果：光线追迹分析 ;2 &" jLVD37 P^  6Nn+7z<*&z 仿真结果：场追迹分析 ms fE; 3lpx h_
 GK'p$`oJm 系统设置：寻找像面 ?%Nh4+3N> sV%DX5@
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*{fs{gFw9 仿真结果：光线分析和场追迹分析 4l %W]'
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