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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 6Kz,{F@ u ^RxD^=L 关于此用例 9lE_nc • 需要以下工具箱 %;!.n{X - 基本工具箱 |y!A&d=xYn • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) X}0cCdW • 在此处获得免费试用版 q@2siI~W 此用例展示了… \'j|BJ~L f • 如何构建GRIN透镜 8q7b_Pq1U • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
!}$$: sDV Q#}a ,R|BG GRIN透镜的构建 /qw.p# f%hEnZv Z3!`J& "kF g GRIN透镜:GRIN介质 P!k{u^$L ^<AwG= }ad|g6i`
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UrQFK 系统设置:探测器和连接 =tY T8Q;al · 探测器说明: QmIBaMI# − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 3;Fhg!ZO #_ lDss {(}By/_ &kw@,];4Z 仿真结果:光线追迹分析 k VQ\1! Ga'swP=hf :Ux_qB 仿真结果:场追迹分析 Af{"pzY E4xa[iZ
fikkY= 系统设置:寻找像面 Du){rVY^d lw5`p,`
1-QS~)+ nFs(?Rv* 仿真结果:光线分析和场追迹分析 ;*&-C9b WjqO@]P6 Q NVa?'0"Y cCc(fF*^
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