切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 513阅读
    • 0回复

    [技术]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    在线infotek
    科学家
     
    发帖
    5627
    光币
    22287
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-09
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 c~+l-GIWm  
    {eR9 ;2!  
     *1bzg/T<  
    s.:r;%a  
    建模任务 Wc|z7P~',%  
    5UO k)rOf  
     |I^y0Q:K  
    a$m_D!b~_  
    结果 _- %d9@x  
    %F J#uQXZ  
    ~`R1sSr"  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表