[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

4BG6C'`%  
摘要 'sJ=h0d_[V  
M}4%LjD  
                       =R#K`H66j  
     f
\"Qgn
 
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 w,NK]<dU@  
wTFM:N  
建模任务 e-4XNL[
F  
yhe$A<Rl=  
r)<]W@Pr  
具有高反射(HR)涂层的标准具 65VnH=  
FxSBxz<N-A  
[ADr _  
A)En25,X  
图层矩阵解算器 @oC8

:  
(US]e un  
8WU UE=p  
u~yJFIo  
=+q9R`!L]  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 2Z6#3~  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2q J}5  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 Q7$
ILW-S  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 KyW6[WA9  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 FG7}MUu  
更多的信息： |XxA Fje  
cbl@V 1  
总结-组件 Q44Pg$jp  
80cBLGG  
X'Q$v~/  
693J?Yah[  
\t'(&taX<  
KzZ! CB\  
两条光谱线的可视化 :(?joLA  
s;q]:+#7g  
精细vs.涂层反射率 ilQR@yp*  
T[s_w-<7$  
vpx8GiV  
7]YLe+Ds  
精细度vs.涂层反射率 m8H|cQ@Uu  
p~I+ZYWF'  
m/n_e g  
内部谐振增强 ^8aj\xe(  
tfj6#{M5  
+Y,>ftN  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 !v^D}P 3Y  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 9 )u*IGj  
=?T\zLN=  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Z}.N4 /  
*. l,_68  
VirtualLab Fusion技术 K8doYN  
LF <fp&C)h