[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

U^snb6\5  
摘要 +d2+w1o^V  
<u&uwD~A  
                       ~i=/@;wRp  
     s@'};E^]@r  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 BB1'B-O  
POtDge  
建模任务 `Z{; c  
nv2Y6e}dG  
.1t$(]CyC  
具有高反射(HR)涂层的标准具 tv,^ Q}  
 ?MPM@9  
~bWqoJ;Q  
VjMd&>G  
图层矩阵解算器 w-HgC  

4O[5,  
q}M^i7IE  
}V ;PaX  
D@"q2 !  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 @j9yc  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Ni"fV]'  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 @J!)o d  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 +O*S>0  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 `g6Z
hG:W  
更多的信息： 6K[s),rdv  
RCND|X  
总结-组件 WvAl!^{`  
+G7A.d`V}  
/7h}_zs6  
Z@t).$  
tJ&S&[}  
h%E25in  
两条光谱线的可视化 yV$p(+KkS  
"@$o'rfT  
精细vs.涂层反射率 @Ys(j$U't  
qdAz3iye  
aS'G&(_  
9cQKXh:R.  
精细度vs.涂层反射率 {S~2m2up0L  
jO3Q@N0_  
HqcXP2  
内部谐振增强 :>F:G%(DK  
Mf%/t HK  
n"@3d.21  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 E4T?8TO$o%  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 f$*M;|c1c/  
_&19OD
%  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 NV36Q^Am[  
N9
5"dNZE  
VirtualLab Fusion技术 '=\]4?S  
dm8veKW'l