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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    g4-HUc zk  
    摘要 K}a[~  
    U` bvv'38#  
                          
    zIm$S/Qe*  
         5HJ6[.HO  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 P/ug'  
    KU$.m3A>  
    建模任务 K_}vmB\2l  
    f PDnkr  
    rb,&i1  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 b$M? _<G  
     /@%  
    Ai /a y# E  
    y]@_DL#J=  
    图层矩阵解算器 GJH6b7I  
    tAaFIIvY  
    *t*yozN  
    }_Jai4O  
    D^f;dT;-  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 R%b,RH#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 s V{[~U,|  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ;pC-0m0Y  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {mI95g&  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 FK+jfr [  
    更多的信息: 7@C :4c@0  
    44b'40  
    总结-组件 /FB'  
    /G</ [N5  
    D'A)H  
    GyT{p#l  
    "iOT14J!7  
    9[8?'`m  
    两条光谱线的可视化 5 {'%trDEy  
    Cee?%NaTS  
    精细vs.涂层反射率 gLu#M:4N  
    m&o&XVC  
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    iPI6 _h  
    精细度vs.涂层反射率 *mq+w&  
    f{ENSUtCrR  
    22(0Jb\_  
    内部谐振增强
    [x,_0-_  
    L?0dZY-"  
    ']4sx_)S  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 |'1[\<MM3  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 xS*f{5Hr8  
    {3`9A7bG  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 8 =J6{{E  
    pbju;h)O!|  
    VirtualLab Fusion技术 !^B`7  
    2NI3 &;{4  
     
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