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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    u$FL(m4  
    摘要 MnlD87x@X  
    ,w f6gmh8  
                          
    cG&@PO]+.  
         z<%dWz  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 bVzJOBe  
    _ ^'QHWP  
    建模任务 NLu[<u U*  
     T\#Gc4  
    /|3~LvIt=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 (b.4&P"0  
    J#5V>7G  
    ~NB|BwAh  
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    图层矩阵解算器 qMoo#UX  
    {-Gh 62hDg  
    6uTC2ka[&R  
     ^"~r/@l  
    lI~8[[$xd  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 o'Fyo4Qd  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 yo8mfH_,  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 W)'*Dcd  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 eeBW~_W  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 i6$HwRZm#  
    更多的信息: e tL?UF$  
    &8yGV i  
    总结-组件 X,Rl&K\b"  
    yo(MJ^=d  
    ( P=WKZMPN  
    g7^|(!Y%  
    irvd>^&jDC  
    Jd?qvE>Pp  
    两条光谱线的可视化 6(x53 y__  
    Qv g_|~n  
    精细vs.涂层反射率 sAPQbTSM  
    1k^$:'  
    &,3s2,1U(  
    q/Vl>t  
    精细度vs.涂层反射率 on"ENT  
    D?UURURf  
    J"@X>n  
    内部谐振增强
    @2mWNYHR*>  
    c##tP*(  
    t)uxW 7  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 8'_MCx(  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 "q1S.3V;  
    Om;aE1sW  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 WW+ F9~S  
    pQ!lY  
    VirtualLab Fusion技术 Lb?q5_  
    [La}h2gz  
     
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