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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 =10t3nA1$  
    BJj~fNm1Zr  
                          
    Y=3Y~  
         o-O/MS   
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 G)43Y!  
    >/bl r}5 H  
    建模任务 '*3+'>   
    ']vX  
    (I[o;0w  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 LwGcy1F.  
    TTE#7\K~B  
    jQ`"Op 3  
     74Q?%X  
    图层矩阵解算器 (Z,,H1L  
    D}"GrY 5  
    ~hvhT}lE  
    Wt3\&.n  
    *h =7:*n  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 TVFGonVY  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 v8%]^` '  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 2%8N<GW.F  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 c~RIl5j  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 u8 <=FV3  
    更多的信息: n)K6Z{x  
    ldX]A#d.  
    总结-组件 d,QJf\fc"  
    H1?1mH  
    ;JmD(T7{  
    Dea;9O  
    +Zr03B  
    ixS78KIr  
    两条光谱线的可视化 Sej$x)Q\t  
    nlmkkTHF8  
    精细vs.涂层反射率 MW$9,[  
    d;;=s=j  
    k Dv)g  
    J5o"JRJ"  
    精细度vs.涂层反射率 #SqOJX~Q  
    Qp=uiXs  
    Zka;}UL&Q  
    内部谐振增强
    z H \*v'  
    NfO0^^"  
    m|7g{vHVV  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 '  qM3.U  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 q/3}8BJ  
    ^Ue.9#9T&g  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 Rxli;blzi  
    JV/,QWar  
    VirtualLab Fusion技术 ZE\t{s0  
    -Qgfo|po  
     
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