[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

7Dzuii?1  
摘要 h5%<+D<  
mpAR7AG6  
                       \P} p5k[  
     <DKS
+R  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 M` q?Fk  
f.aSKQD  
建模任务 #_lt~^6  
iHwLZ[O{  
9TF f8'?d  
具有高反射(HR)涂层的标准具 Qy<[7  
/,!qFt  
u p.Q>
28r  
{Q+gZcu  
图层矩阵解算器 R>DaOH2K*  
WLF0US'  
Nx{$}  
4h5g'!9-g  
Z3>N<u8)  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 WZOY)>K  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 xe7O/',pa=  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 FX9F"42@  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 CkJCi  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ?9l [y  
更多的信息： u
@ jX+\  
lb'GXd%  
总结-组件 Hzrtlet  
3qY K_M^[  
%6AW7q t  
C6O8RHg  
DI!V^M[~u  
? uYu`Ojzr  
两条光谱线的可视化 SyA
vKd`g  
UzXE_S  
精细vs.涂层反射率 ;'81jbh  
gp$Ucfu'  
XU+<?%u}z  
)tC
X y4  
精细度vs.涂层反射率 PW3GL3+  
dw.F5?j`b  
>
A0k 8T  
内部谐振增强  8q1wHZ  
]skkoM  
 ;raN  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
piU/&  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 3Tn)Z1o  
Cy*|&=>j  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 aR\\<due  
0afei4i~N  
VirtualLab Fusion技术 ]xguBh]  
rP!#RzL