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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 HyKv5S$  
    1}Mdo&:t  
                          
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         IP=."w  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 I' TprT  
    .R5(k'g?  
    建模任务 W_%@nm\y  
    K! I]0!:  
     mX&!/U  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 NUp,In_  
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    Ia!B8$$'RP  
    ^DH*\ee  
    图层矩阵解算器 ?&rt)/DV,  
    ;2%8tV$V  
    0V[`zOO(o  
    q9iHJ'lMD*  
    (HD8Mm  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Tw+V$:$$  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 $$f89, h  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 2SV}mK U  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 \~~y1.,U.  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 {sb2r%U!+  
    更多的信息: ngI3.v/R  
    +\/1V`  
    总结-组件 `y0u(m5  
    n1J;)VyR  
    TQ&1!~L*  
    L-z9n@=8\  
     ; V)jC  
    ayK?\srw  
    两条光谱线的可视化 pb5q2|u`h  
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    精细vs.涂层反射率 A8oTcX_  
    D8*t zu-  
    WkUV)/j  
    8o%g2 P9.  
    精细度vs.涂层反射率 7*I:cga  
    .mwB'Ll  
    _CImf1  
    内部谐振增强
    =%Z5"];  
    poU1Q#+4p*  
    jL]Y;T8  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 .4O~a  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 r~q 3nIe/,  
    2PTAIm Rq  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 ##r9/`A  
    6haw\ *  
    VirtualLab Fusion技术 Y6:b  
    Xdl7'~k  
     
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