u$FL(m4 摘要 MnlD87x@X
,w
f6gmh8
cG&@PO]+. z<%dWz Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
bVzJOBe _
^'QHWP 建模任务 NLu[<u U* T\#Gc4
/|3~LvIt= 具有高反射(HR)涂层的标准具 (b.4&P"0
J #5V>7G
~NB|BwAh x.$cP 图层矩阵解算器 qMoo#UX
{-Gh 62hDg
6uTC2ka[&R ^"~r/@l lI~8[[$xd 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
o'Fyo4Qd 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
yo8mfH_, 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
W)'*Dcd 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
eeBW~_W 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
i6$HwRZm# 更多的信息:
e
tL?UF$ &8yGV i 总结-组件 X,Rl&K\b"
yo(MJ^=d
(P=WKZMPN
g7^|(!Y% irvd>^&jDC Jd?qvE>Pp 两条光谱线的可视化 6(x53y__ Qv
g_|~n
精细vs.涂层反射率 sAPQbTSM
1k^$:'
&,3s2,1U(
q/Vl>t
精细度vs.涂层反射率 on"ENT
D?UURUR f
J"@X>n
内部谐振增强 @2mWNYHR*> c##tP*( t)uxW
7 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
8'_MCx( 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
"q1S.3V;
Om;aE1sW 注意: 传输值取自艾里图案的中心
WW+F9~S p Q!lY VirtualLab Fusion技术 Lb?q5_
[La}h2gz