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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    htBA.eQ  
    摘要 _*mn4n=  
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    @ {/)k%U  
         V(';2[)  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ynI e4b  
    <ToS&  
    建模任务 qc8Ge\3s  
    jSI1tW8  
    (?z?/4>7<  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 csP4Oq\g[  
    K~L&Z?~|E  
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    )N.3Q1g-  
    图层矩阵解算器 s)-An( Uw  
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    1Lb)S@Q`*R  
    g}_2T\$k  
    _Ewh:IM-  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 "~4V(  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 0#V"   
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 )!8q JQD  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 kV'zA F v  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 [ V.67_~  
    更多的信息: !>48`o ^  
    <cTX;&0=  
    总结-组件 <"3q5ic/Z  
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    RY;V@\pRY+  
    iv*RE9?^  
    ?!RbS#QV}  
    +SFFwjI  
    两条光谱线的可视化 R27'00(Z0  
    dz^HN`AlzC  
    精细vs.涂层反射率 =xk>yw!O)  
    c=v016r\  
    |f_'(-v`E  
    b7.7@Ly y  
    精细度vs.涂层反射率 aO{@.  
     P^te  
    8a6.77c  
    内部谐振增强
    SdnnXEB7  
    @qNY"c%HV  
    "Q@m7j)(  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 \&F4Wl>`  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 @Ou H=<YN  
    )@! fLA T  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 aE0R{yupZ  
    .@{v{  
    VirtualLab Fusion技术 2J=`"6c  
    %pVsafV  
     
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