t0-)\kXcA 摘要 HyKv5S$
1}Mdo&:t
lZf=# IP=."w Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
I' TprT .R5(k'g? 建模任务 W_%@nm\y K! I]0!:
mX&!/U 具有高反射(HR)涂层的标准具 NUp,In_
oW\kJ>!
Ia!B8$$'RP ^DH*\ee 图层矩阵解算器 ?&rt)/DV,
;2%8tV$V
0V[`zOO(o q9iHJ'lMD* (HD8Mm 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
Tw+V$:$$ 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
$$f89, h 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
2SV}mK U 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
\~~y1.,U. 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
{sb2r%U!+ 更多的信息:
ngI3.v/R +\/1V` 总结-组件 `y0u(m5
n1J;)VyR
TQ&1!~L*
L-z9n@=8\ ;V)jC ayK?\srw 两条光谱线的可视化 pb5q2|u`h 'Vz Yf^
精细vs.涂层反射率 A8oTcX_
D8*tzu-
WkUV)/j
8o%g2 P9.
精细度vs.涂层反射率 7*I:cga
.mwB'Ll
_CImf1
内部谐振增强 =%Z5"]; poU1Q#+4p* jL]Y;T8 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
.4O~a 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
r~q3nIe/,
2PTAIm Rq 注意: 传输值取自艾里图案的中心
##r9/`A 6haw\ * VirtualLab Fusion技术 Y6:b
Xdl7'~k