[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

U!@3['  
摘要 =,D3e+P'  
=bUVGjr%96  
                       s[:e '#^  
     Y(WX`\M97  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 e_6@oh2s-  
Ez^U1KKOE7  
建模任务 [YT"UVI  
F+vgkqs@9  
DUg  
具有高反射(HR)涂层的标准具 u</21fz'  
w < p  
A7.$soI\  
GXC:~$N  
图层矩阵解算器 Q!Rknj 2  
kV7c\|N9  
/nEh,<Y)  
|F36^  
"Vp+e%cqG  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 TY"=8}X1  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 gIS<"smOo  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ukV1_QeN[  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 n!mtMPH$  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 >Pv#)qtm  
更多的信息： bet?5Dk  
~={8b  
总结-组件 &1:xY.Zs_  
b_*Y5"(*  
X:\r )  
9;u$a^R.  
f>
nj9a5  
bit&H  
两条光谱线的可视化 B8z3W9  
#5)E4"m  
精细vs.涂层反射率 kS[xwbE  
uzL)qH$b  
sW 7R&t!G  
8$<jd^w  
精细度vs.涂层反射率 <5MnF  
&eq>>  

AE1!u{  
内部谐振增强 FbQ"ZTN\;Y  
O3#4B!J$E  
A P><l@  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 hA6!F#1  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 BY"<90kBL  
zzi%r=%r&  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 |4BS\fx~N  
YuD2Q{  
VirtualLab Fusion技术 >=c<6#:s<9  
$6 \v1