切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 545阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5925
    光币
    23778
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    P)Z/JHB  
    摘要 L& I` #  
    :/>7$)+  
                          
    |)28=Z|Z  
         mG>T`c|r3  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。  yQ<6p3  
    }/_('q@s\  
    建模任务 Y*`:M(  
    L.SDMz  
    2ZU@>W  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ?+bTPl;%'  
    [Xs}FJ  
    $/4Wod*l  
    mw:3q6  
    图层矩阵解算器 v>JB rIb$  
    uOyLC<I/  
    K{, W_ ^  
    h{Oz*Bq  
    K.:6YXVs<  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 p3V9ikyy  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 UeMnc 5y  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 F(T=WR].o  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 9c"0~7v  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 xnl<<}4pJ  
    更多的信息: r0~7v1rG  
    $ 1ak I  
    总结-组件 B$K7L'e+-  
    mJwv&E  
    2A dX)iF@  
    [37f#p  
    VFe-#"0ZO  
    Xulh.: N}  
    两条光谱线的可视化 1.hOE>A%  
    ZkJY.H-F  
    精细vs.涂层反射率 fMWXo)rzj  
    ,m #@%fa  
    ;y:#S^|?-z  
    NUi{!<  
    精细度vs.涂层反射率 Iu=pk@*O  
    3&.TU5]`-  
    "U/NMGMj  
    内部谐振增强
    I T*fjUY&  
    2jI4V;H8g  
    :d!i[W*  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 jK ?  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 UMHuIA:%U  
    }0k"Sw X  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 H;7O\  
    nr 'YWW  
    VirtualLab Fusion技术 y>)mSl@1y  
     y)N.LS  
     
    分享到