[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

6/9h=-w&  
摘要 `F>1xMm  
DlR&Lnv  
                       =*q:R9V  
     N,w;s-*  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 T[=XGAJ  
/FiFtAbb  
建模任务 3:a}<^DuCS  
<ZJ>jZV0*  
Osb"$8im  
具有高反射(HR)涂层的标准具 1;ulqO  
t%Z_*mIfmE  
P,!k^J3:l  
/|y3M/;F  
图层矩阵解算器 $7
aRf'  
Kg>+5~+E?q  
/D_8uTS>d[  
PZO7eEt8  
&_&])V)<\S  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 `^s(r>2  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 P_t8=d  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 fPHv|_XM>  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 O'm&S?>  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 F5%-6@=  
更多的信息：  'TV^0D"  
`4Z#/g  
总结-组件 -,96Qg4vI  
IgC)YIhd  
1,W%t\D  
N7Z&_$Bx  
LaJc;Jt$  
L]#J?lE&  
两条光谱线的可视化 P]+^
^U  
[kFX>G4  
精细vs.涂层反射率 /w!b2KwV  
")HTUlcAe}  
<HG~#oBRq  
tF&%
7(EU3  
精细度vs.涂层反射率 ~MO'%
'@  
5Zn3s()  
wH!]B-hn  
内部谐振增强 h|%d=`P,  
}tx~y-QQ  
M.d{:&@`%  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 i(,R$AU  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 .'"+CKD.N  
nA
d 4g|  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 rN{&$+"2  
7 m&M(ct  
VirtualLab Fusion技术 KEYM@,'  
>K-O2dry*