b7Y g~Lw 摘要 Xtp8^4Va
q76POytV|
}d$-:l,w R>'
%}|v/ Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
S_}`'Z ) QFh1sb)]d) 建模任务 M5xJ_yjG Io6/Fv>!
T U%@_vYR 具有高反射(HR)涂层的标准具 MNT~[Z9L5G
6(
HF)z
Fu7:4+ Ebg8qDE
图层矩阵解算器 GAGS-G#
I[z:;4W}L^
A~ya{^}
~zp8%lEe xm'9n? 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
-@TY8#O#- 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
jW/WG tz 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
UK`A:N2[ 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
+`y(S}Z 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
1/_g36\l$ 更多的信息:
z^Q'GBoBA XxqGsGx4 总结-组件 [m~J6WB
7Q
3!=b
&$"#hGg
"gJ?LojB < b
F=MQ Hq@+m! 两条光谱线的可视化 3^xUN|.F*V \j8vf0c5b
精细vs.涂层反射率 _k84#E0
U>5^:%3
z2=bbm:
U,<m%C"
精细度vs.涂层反射率 T:}Q3
MlO OB
bQ<qdGa
内部谐振增强 f}otIf
y]9R#\P/ )'shpRB;1 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
=?sG~ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
)|gw5N4;
I16FVdUun4 注意: 传输值取自艾里图案的中心
gF6> / IUMv{2C VirtualLab Fusion技术 uU
d"l,V
]xC56se