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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 JvO1tA]ij  
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    Wep^He\:  
         72;'8  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 &@lfr623  
    ,-6Oma -  
    建模任务 ZXx1S?u  
    _}5vO$kdO  
    i%o%bib#  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 I~6) Gk&  
    2^B_iyF;  
    5|rBb[  
    OJm ]gb7  
    图层矩阵解算器 !Q>xVlPVu  
    t oA}0MI(:  
    >J;TtNE:  
    A}lxJ5h0  
    UV2W~g  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 nVs@DH  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 /bykIUTKI  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 obvE m[x!Z  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 %6q82}#`  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 0)|Z 7c&  
    更多的信息: |&4A"2QN  
    Z#}sK5s  
    总结-组件 ! t!4CY  
    Ovx *  
    ~lV#- m*  
    9Y3"V3EZ  
    k@7#8(3  
    $6n J+  
    两条光谱线的可视化 X2V+cre  
    O\Huj=  
    精细vs.涂层反射率 'u.Dt*.Uq  
    OP\jO DX  
    :|(YlNUv  
    ug,AvHEnB  
    精细度vs.涂层反射率 |pHlBzHj  
    0f5 ag&  
    A l;a~45  
    内部谐振增强
    uBts?02  
    z6w'XA1_+t  
    +2{ f>KZ  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 B=]j=\o  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 6 ZRc|ZQ  
    F`4W5~`  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 e\X[\ve  
    p l^;'|=M  
    VirtualLab Fusion技术 `!cdxKLR  
    d*|RFU  
     
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