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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    PdUlwT? 8C  
    摘要 Xknp*(9  
    p;[">["  
                          
    (]JZ1s|  
         Vv"JN?dHi  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 <oweLRt  
    ~ .}  
    建模任务 I<v1S  
    5pF4{Jd1  
    tE i-0J  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 9~bl  
    0y>]6 8D  
    ^BDM'  
    G~SgI>Q  
    图层矩阵解算器 g_kR5Wxpt  
    n"[VM=YGI  
    [D8u.8q  
    gnW]5#c@  
    Xz,-'  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 _0~WT  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 X2X.&^  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 IO,ddVO  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {[r}&^K15  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 |'w_5?|4  
    更多的信息: aq'd C=y  
    hxIG0d!o  
    总结-组件 wA@y B"  
    :6~DOvY  
    WD wW`  
    \E9Hk{V:6  
    t7A '  
    _R&}CP  
    两条光谱线的可视化 x$Gu)S  
    >Oary  
    精细vs.涂层反射率 wYZ"fusT  
    `t0?PpUo  
    ``%uq)G=D  
    64qm  
    精细度vs.涂层反射率 s0,\[rM  
    ^%)H;  
    Y)?dq(  
    内部谐振增强
    PV_E3,RY  
    fZoV\a6Kj  
    7@[3]c<=  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =5NM =K  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 WM& k  
    xM ]IU <  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 6kW<i,A -  
    5gZEcJ  
    VirtualLab Fusion技术 'b#`)w@/=  
    w]Q0}Z  
     
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