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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 3f] ;y<Km  
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    B*,)@h  
         BtZ]~S}v  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 TK fN`6  
    })H d]a  
    建模任务 dPwyiV0  
    :-B+W9'5  
    @M]_],  
    具有高反射(HR)涂层的标准具  k~ ^4  
    l!F$V;R  
    WJ25fTsG  
    r<ucHRO#  
    图层矩阵解算器 bI55G#1G  
    =FrB{Eu  
    G{3 |d/;Bt  
    V0=%$tH  
    Q$c6l[(g  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 N2v/<  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 S^eem_C  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ( Jk& U8y  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 AJbCC  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 sD:o 2(G*  
    更多的信息: x#J9GP.  
    #wI}93E  
    总结-组件 wqb4w7%  
    .|Huz k+  
    #;]#NqFX  
    U!aM63F3  
    D%p*G5Bg3  
    rD].=.?1  
    两条光谱线的可视化 uiVN z8H  
     USV DDqZ  
    精细vs.涂层反射率 5To@d|{  
    7nek,8b  
    BDB*>y7(  
    Dfs*~H 63  
    精细度vs.涂层反射率 #ES[),+|mB  
    "' JnFM  
    X zJ#)}f  
    内部谐振增强
    \c< oVF'  
    Qt>K{ >9Cf  
    _MBhwNBxZ  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 a!9'yc  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 xB *b7-a  
    VJ~D.ec  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 J~m$7T3Af  
    2n:<F9^"  
    VirtualLab Fusion技术 3iCe5VF  
    D&G6^ME  
     
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