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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    S{Au%Rs  
    摘要 kRgyvA,*;  
    .ukP)rGe  
                          
    =VlO53Hy{  
         nm*!#hx  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 |,]#vcJP#b  
    Y#c11q Z  
    建模任务 c7IgndVAV  
    #UC4l]Ru A  
    @ -JD`2z  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 `X]-blHo  
    Vzz0)`*hQ  
    -o F#a 8  
    "2CiW6X[M  
    图层矩阵解算器 M~7?m/Wj  
     "t8mQ;n  
    )%C482GO-  
    DRi!WWivn  
    B|%=<1?  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 tqrvcnQr^  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 BoP%f '0N  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 G#Z%jO-XN  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 1z~;c|  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 6(oGU4  
    更多的信息: f9D7T|J?10  
    mCtuyGY  
    总结-组件 i,ku91T  
    3OFv_<6  
    E[LXZh  
    2Z,;#t  
    !cnH|ePbI  
    ~SZ0Yu:X  
    两条光谱线的可视化 '[5tc fG#z  
     iTbmD  
    精细vs.涂层反射率 _Ux>BJmP  
    2=!/)hw}  
    R]/F{Xs  
    8pDJz_F!{  
    精细度vs.涂层反射率 8dUwJ"<5  
    nI.#A  
    r7*[k[^[^  
    内部谐振增强
    y~1UU3k5  
    NEZF q?  
    LjXtOF  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 Bi kCjP[b  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 f]5bAs  
    X~G"TT$)  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 GWA_,/jS%  
    Aid{PGDk  
    VirtualLab Fusion技术 %<DRrKt  
    V}9wx%v  
     
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