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HIeMV,.QN 干涉测量是一种 光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷, 机械和高 精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非 序列场追迹的帮助下,我们在 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-曾德尔 干涉仪,本案例清楚地展示了 光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 D 2Go,1 BmUzsfD 建模任务 4/U]7Y z(orA} [ {nOK*7+" 元件倾斜引起的干涉条纹 [I4FU7mpH +;[`fSi |I+E`,n"b 元件移位引起的干涉条纹 )SUN+YV^
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