-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-11-13
- 在线时间2001小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
Vn^8nS 干涉测量是一种 光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷, 机械和高 精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非 序列场追迹的帮助下,我们在 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-曾德尔 干涉仪,本案例清楚地展示了 光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 E_z,%aD[ K(NP%: 建模任务 :h0!giqoQ 6il+hz2&lH ZE/Aj/7Qy 元件倾斜引起的干涉条纹 wxG*mOw {!4ZRNy(k Hc0V4NHCaL 元件移位引起的干涉条纹 P6'0:M@5
|