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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    3T31kQv{  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 W KQ^NEqr3  
    +y,T4^{  
    g6W)4cC8a  
         )r';lGh2#  
    建模任务 062,L~&E  
    &d9{k5/+\  
    osciZ'~  
    概述 LU+3{O5y  
    Bm.afsM;  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 B*qi_{Gp  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 lNNv|YiL  
    SEORSS  
    oYHj~t  
    SD#]$v  
    光线追迹仿真 .=U#eHBdAQ  
    zh4# A <e  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 R FKtr  
    •单击go! X#d~zk[r2  
    •获得了3D光线追迹结果。 s.EI`*xylY  
    8][nmjk0  
    &9/O!3p)  
    kSC}aN'  
    光线追迹仿真 Wi>!{.}%A  
    , l%C X.9  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 9s_vL9u  
    •单击go! =5aDM\L$&  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 PiYY6i0  
    P D4Tz!F  
    CPgCjtY  
    r$5i Wu  
    场追迹仿真 "ZHW2l Mf  
    qd+h$ "p  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 t c[n&X  
    •单击go!  R=.4  
    &lR 6sb\  
    Ny_lrfh)[  
         'iy*^A `Y  
    场追迹仿真(相机探测器) KiRUvWqa  
    5?p2%KQ  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 u7bLZU 0  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 "nm FzN  
    &GNxo$CG  
    {)DHH:n  
    : k7uGD  
    场追迹仿真(电磁场探测器) |nbf'  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Q F-LU  
    6``'%S'#  
    J\J?yo 6  
         ,REJt  
    场追迹仿真(电磁场探测器) p>vn7;s2#  
    ?gJOgsHJP  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ]V-W~r=  
    klQC2drS  
     
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