[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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摘要 hIQ[:f  
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 5^K#Tj ;2  
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建模任务 _P<lG[V  
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由于组件倾斜引起的干涉条纹 $xtE+EV.p  
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由于偏移倾斜引起的干涉条纹 9G&l qfX:  
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