高NA物镜广泛用于光刻，显微等技术。因此，聚焦
仿真中考虑光的矢量性质至关重要。
VirtualLab可以非常便捷地对此类
镜头进行
光线追迹和场追迹分析。通过场追迹，可以清楚地观察由于矢量效应引起的聚焦
光斑失对称现象。利用
相机探测器和电磁场探测器能够对聚焦区域进行灵活全面的研究，进而加深对矢量效应的理解。
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^ YOC HXg _ sqj~|K 2. 建模任务 Iip%er%b
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cs lZ; fV#,<JG 3. 概述 #Z. QMWq fZ aTckbE *"nN To 示例
系统包含了高数值
孔径物镜 aP$it 6Z 下一步，我们将阐述如何遵循VirtualLab中推荐的工作流程执行示例系统的仿真。
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$fCKK&Wy O=[ Q >\p 4. 光线追迹仿真 KS'n$ %lk^(@+ T 9])Id;+91 首先，选择“Ray Tracing System Analyzer”作为仿真引擎。
mv,5Q6! 点击“Go!”。
{^ D; ($lm 随即获得3D光线追迹结果
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Z;O!KsJ 8NkyT_\ 然后，选择“Ray Tracing”作为仿真引擎。 点击“Go!”。
h2-v.Tjf 随即获得点列图(2D光线追迹结果)。
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ds9U9t 5. 场追迹仿真 7@&mGUALO G|o O sWmqx$ 转换到场追迹，并选择“Field Tracing 2nd Generation”作为仿真引擎。
sYhHh$mwA 点击“Go!”。
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Y\Z6u) CcTdLq 6. 场追迹结果(相机探测器) {,!!jeOO @HzK)%@
9Af nMD 上图所示为仅通过叠加Ex和Ey场分量得到的强度分布。
`Ez8!d{MD8 下图所示为通过叠加Ex，Ey和Ez分量得到的强度分布：由于在高NA条件下相对较大Ez分量，导致聚焦光斑明显的失对称性。
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ch2m Ei( 7. 场追迹结果(电磁场探测器) <&^[?FdAa 利用电磁场探测器，我们可以获得多有电磁场分量的结果
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