干涉测量法是
光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高
精度的
机械和热变形。 作为一个典型示例,在
VirtualLab Fusion中借助非
序列场追迹,构建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了
光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
_]4p51r0 vVa|E#
[
W~D_+[P|_ 8Ala31 建模任务 J-dB -/{FGbpR;
[
fzYC'A= JVy|SA&R 元件倾斜引起的干涉条纹 |M5#jVXj g:JSy
MSvZ3[5Io .|R4E 元件移动引起的干涉条纹 ws!~MSIy
hPBBXj/=
&U|c=$!\ p5or"tK 走进VirtulLab Fusion EXVZ?NG
2y^:T'p
b=:u d[h OmBz'sp: VirtualLab Fusion工作流程 Z*mbhod R`a~8QVh&5 I]e+5 E0 o68i0aFW jUA~}DVD
si6CWsb_ f QE[<Y3M VirtualLab Fusion技术
iD_y@+iz
=cjO]
I)FFh%m<}a