干涉测量法是
光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高
精度的
机械和热变形。 作为一个典型示例,在
VirtualLab Fusion中借助非
序列场追迹,构建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了
光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
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`.% 元件倾斜引起的干涉条纹 N,WI{* =?meO0]y xB?S#5G} YH/S2 D 元件移动引起的干涉条纹 AzHIp^
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