[技术]马赫-泽德干涉仪 [复制链接]

干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 IP<]a5  
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元件倾斜引起的干涉条纹 1V/?p<A  
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元件移动引起的干涉条纹 _`|te|ccF  
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• 设置入射高斯场

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• 设置组件的位置和方向
• 设置组件的非序列通道

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