<z%**gP~G 6wu`;>
irm4lb5 OO?N)IB@ 衍射式分束器被广泛用于
光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射
光线的
角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微
结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况
优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。
9[X'9*, 2 <OU)rVE4 建模任务 ,6MJW#~]
dHiir&Rd9`
tA4Ra,-c vy5Fw&?" 微结构 ,J+L_S+B~
4Zu1G#(zP
_kRc"MaB
wXp:XZ:]T ny+r>>3Td
ox<&T| kl~/tbf h#}w18l Jb$G 微结构组件的配置 {*n<A{$[
m
@8`I!fZ
kmTYRl
)j Ap?,y? - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。
XNx$^I= - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。
gQSVPbzK - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。
k ?6d\Q - 用于通过堆栈传播的
精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。
Hc<@T_h+2 EpR n,[ 总结-组件…
^{IZpT3 PN9vg9'
%X\A|V& #6#n4`%ER I:oEt f^QC4hf0 监测器平面上的衍射图案 *re?V9
d>I)_05t
aynaV Wz R)R9x] 监测器平面上的衍射图案 v4E=)?
'xai5X
oI`Mn3N YWd2bRb 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。
F[O147&C mh[,E8'd 高度缩放调制 3}phg
z8S]FpM6
HH6H4K3Zj d)biMI}<5 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 6W3oIt
a""9%./B
'^WR5P<8c 0&|M/ VirtualLab Fusion技术 WdS1v%
iNi1+sm