[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

bhbTloCR  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ,=c(P9}^  
B9KBq$e  
so/0f1R?~  
JRZp'Ln  
1. 案例 gu~R4@3  
zxH<~2
 
k'PvQl"I  
  >H5t,FfQL  
在VirtualLab Fusion中构建系统 C]l)Pz$  
nHQ*#&$  
1. 系统构建模块 (!J;
g|58  
aJF/y3  
~x+'-2A46  
#h U4gX,  
2. 组件连接器 >j$a
Y  
/me ]sOkn  
|:4?K*w",  
  1[#sHj$Na`  
几何光学仿真 &,:!
gYN  
!<VP[%2L~  
以光线追迹 J7%rP
J  
SDNRcSbOD6  
1. 结果：光线追迹  98^7pa  
.a(G=fk  
dTu*%S1Z  
  T<b*=i  
快速物理光学仿真 :A:7^jrhi  
*qAG0EM|  
以场追迹 o"z;k3(i$7  
:hW(2=%  
1. NA=1.4时的光栅成像 {<gX~./]c  
r!eW]M  
RW1+y/#%P  
     u^c/1
H:6  
2.  NA=0.75时的光栅成像 }R5EuR m\  
   0aI@m  
CR2.kuM0~  
     ;L#RFdh  
3. NA=0.5时的光栅成像 nN@ Ch  
       *zDDi(@vtK  
|O'*CCrCL