[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

2GHXn:V  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 Y&K<{KA\4  
] P:NnKgK  
8MYLXW6  
CVyx lc>  
1. 案例 l044c,AW(  
-6hu31W  
}1X11+/W  
  2)HxW
}o  
在VirtualLab Fusion中构建系统 &KOG[tv  
%J/fg<W1  
1. 系统构建模块 N'lGA;}i  
INN/VDsJ  
=UI,+P:  
-dc"N|.  
2. 组件连接器 }mtC6G41Q  

2XETQ;9  
mG}^'?^K  
  uMiD*6,$<  
几何光学仿真 \Y>#^b?  
oP43NN~  
以光线追迹 ,T,B0  
?9wFV
/  
1. 结果：光线追迹 z$I[kR%I{  
;*<{*6;=?  
pQ[o3p!&9  
  Tb!B!m  
快速物理光学仿真 ^cKv JSY  
Q5`+eQ?_\  
以场追迹 &F<J#cfe8  
6\)8mK  
1. NA=1.4时的光栅成像 lzr>WbM{{p  
A|`Joxr  
#G[ *2h~99  
     4acP*LkkQ  
2.  NA=0.75时的光栅成像 x 1%J1?Fp  
   oneSgJ  
,\m;DR1  
     `ohF?5J,  
3. NA=0.5时的光栅成像 8vX*SrM  
       ^cPo{xf  
(TbB?X}