[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

d512Y[ R  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 NI?YUhg>  
Md,KW#  
3
L(vZ2&  
Qz/1^xy  
1. 案例 fQOh%i9n5  
>vY5%%}  
ZtqN8$[6n  
  0^rDf L  
在VirtualLab Fusion中构建系统 6)~J5Fb  
6@o *"4~Q  
1. 系统构建模块 xu
7Q^F#u  
96 !e:TU  
tB7g.)yZb  
,BG L|5?3z  
2. 组件连接器 [boB4>.  
p8Wik<'^  
:IlJQ{=W  
  |*W
E@L5  
几何光学仿真 DQOEntw  
*(sFr E  
以光线追迹 s4{WPU9  
#y&O5    
1. 结果：光线追迹 @fxDe[J:  
Zm!5X9^!  
G;3N"az  
  ,a/<t"  
快速物理光学仿真 t!,GI
&  
c$HZvv  
以场追迹 Y^@Nvt$<K  
Iz[
T.$9  
1. NA=1.4时的光栅成像 :F`yAB3  
=Wj{J.7mf]  
jVtRn.qh  
     B> LL *  
2.  NA=0.75时的光栅成像 }\Mmp+<  
   v}AVIdR  
J< U,~ra\  
     / !*+9+h  
3. NA=0.5时的光栅成像 .[KXO0Ui6u  
       ZeyAbo  
k)l^;x-