Sj|tR[SAoD 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
T{`VUS/ t)?K@{ 9 7I&o 'r\RN\PT 任务描述 y0&vsoT
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d9F /N<aN9Z<x, VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 r7R.dD/.
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c?}G;$ XOI"BLd VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 U:3OE97
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$0un`&W wF% RM$ 可编程参数运行 r%iFsV_
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$U9]v5 t6mv 可编程参数运行选项 GRkN0|ovfj
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Is<XMR|{ UA2KY}pz5 分布类型 -\;0gnf{J
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@by{ 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
:b %2qBv |mHf7gCX 效率的统计分布 8Q)|8xpYS
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G}+@C] v@q&B|0 光栅公差 U.I
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DC1.f(cdR 3BD&;.<r 随机分布类型 6m(? (6+;K
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