AMc`qh 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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5b9 y rmi:=N( 任务描述 SB=%(]S
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^4[|&E: U$^ $7g 3 VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 _e94
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RzN9pAe B),Z*lpC VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器
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Wd]MwDcO fE,Io3 可编程参数运行 <K
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I#9q^,,F !7jVKI80 可编程参数运行选项 a474[?
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\2VYDBi?| Bd>a"3fA 分布类型 52#Ac;Y
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Ym$=^f]- g<PglRr" 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
vbSycZ2M7 Pj{Y 效率的统计分布 Rxk0^d:sNi
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XG}9)fT !FHm.E_> 光栅公差 ~9DD=5\ p-JGDjR0G nV3I6 L{Kl! 最低效率的级次效率
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Y[Eq;a132
c[X:vDUX 6gTc)rhRT 随机分布类型 0UOjk.~b
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