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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 f7}"lG]q +?RGta'%k
O}Ui`eWU PM$Ee #62R 建模任务 !Q-wdzsp? Ccfwax+ FgA//)1 概述 X_; *`,<T |c-LSs'\ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 kR.wOJ7' •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 )Du-_Z ;i#LIHJ
yeD_j/ w5]"ga>Y 光线追迹仿真 #`GbHxd w#PZu+ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 hN`gB#N3 •单击go! X=qS"O 1 •获得了3D光线追迹结果。 a
ib}`l &J"YsY
FN"rZWM nYv#4* 光线追迹仿真 >L2*CV3p coQ[@vu •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ]S8LY.Az5 •单击go! '\p;y7N •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 9+CFRYC YaFcz$GE_
.+#Lx;}) Wb=Jj 9; 场追迹仿真 :q2YBa _[E \= •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 5S/>l_od$2 •单击go! oo'w-\2]p GXb47_b^ #0MK(Ut/ 2o{@nN8% 场追迹仿真(相机探测器) ./maY1>T hN4VlNKu •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 :zL 393( •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 , p0KLU\- 'XfgBJF=
NM L|"R; >iy^$bqF 场追迹仿真(电磁场探测器) .:0M+Jr" •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 5gNLO\ QP\yaPE sMi{"`37 vj3isI4lU 场追迹仿真(电磁场探测器) \REc8nsLy J/S{FxNe] •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 qc0 B<,x7 qyv"Wb6+
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