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摘要 {EZFx,@t ?T$*5d 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 3m?@7 F R*zBnHAb!
wCTcGsw W UA1]o5K 建模任务 d8VWi* {yul.m I%.jc2kK
o9DYr[ 元件倾斜引起的干涉条纹 00$ @0 ..v@Q%
#r78Ym'aI 1oXz[V 元件移动引起的干涉条纹 2D\x-!l/ rQ9?N^&!%
Ncs4<"{$ ;H D 4~3 走进VirtulLab Fusion *B)Jv9 H-nFsJ(R!c
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_#y(w% VirtualLab Fusion工作流程 \#IJ=+z Dohl,d −基本源模型[教程视频] JI{OGr
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] )VV4HoH]8 K{eqB!@j
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^=heen<S% YFC0KU 文件信息 n9mM5H47 4jq`No_ 5Tcl<Y6l
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