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摘要 CtfSfSAUuu DW-LkgfA 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 84{<]y u/zC$L3B(
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{p-%\nOC 建模任务 Q>r Q/V Fh"S[e vfj Ipg%i ]X5*e' 元件倾斜引起的干涉条纹 H [v~ z TK
"7l}X{b w+}dm^X 元件移动引起的干涉条纹 YZk& 'w YMWy5 \
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Qknd ^% ;gc2vDMv VirtualLab Fusion工作流程 R%Z} J R. 9\xw}ph −基本源模型[教程视频] |QY+vO7fxj
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Ue%0.G|<W -L[K1;Xv"
JDP#tA3 cqq+#39iC VirtualLab Fusion技术 wD<G+Y} xs:{%ki
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