非球面光学元件，特别是其中的自由曲面元件，在设计自由度上相比于球面具有很大的优势，基于非球面构建的光学系统能够以简单的光机结构实现复杂的设计目的。面型检测技术是保障光学非球面加工精度的关键，针对不同种类的非球面以及非球面加工的不同阶段对检测指标要求的多样性，现已发展出了种类繁多的检测方法。本文回顾了非球面光学元件面型检测技术的发展历程，分非干涉法与干涉法两大类整理了常用的检测技术，介绍了各自的技术指标与适用条件、研究进展与应用情况。本文重点讨论了基于干涉方法的非球面精密检测技术，举例说明了非零位与零位两条技术路线下各检测方法的基本原理、光路结构与检测能力，对比分析了各方法的优缺点与适用范围，介绍了一些配套算法以及检测光路的精密调节方法。
