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a0ze7F<( 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 uua1_#a 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 )\TI^%s 常熟黉论教育咨询有限公司 #%i-{t+_> 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 }X`jhsqT 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 A?xb
u*zV, 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) Wd_cNR\ 讲师:讯技光电高级工程师 gZr/Dfy 课程简介: R?Or=W)i 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 | <ZkJR3B e
r;3TG~ 课程大纲: ^L<*ggw 1. 杂散光介绍与术语 5Y&s+| 1.1 杂散光路径 afMIq Q? 1.2 关键面和照明面 e[@q{. 1.3杂光内部和外部杂散光 KD~F5aS`[ 2. 基本辐射度量学-辐射 d6.9]V? 2.1 BSDF及其散射模型 a,U =irBA 2.2 TIS总散射概念 X=p~`Ar M{ 2.3 PST(点源透射比) WM}bM]oe 3. 杂散光分析中的光线追迹 TvWhy`RQ 3.1 FRED软件光线追迹介绍 IPl>bD~=p 3.2构建杂散光模型 M9@#W" • 定义光学和机械几何 { [4Y(l1 • 定义光学属性 M,Px.@tw. 3.3 光线追迹 96Tc:#9i • 使用光线追迹来量化收敛速度 R?Q@)POW • 重点采样 )]%GNdU • 反向光线追迹 F~ n}Ep~1 • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 |400N
+MK • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 gtHk1 9 • 杂散光对MTF的影响 P$)9osr 4. 来自RMS表面粗糙的散射 O329Bkg 4.1来自表面粗糙的散射 [j5^Zb&0 • RMS粗糙度与BSDF的关系 c(bh i • 由PSD推导BSDF ~`M GXd"o • 拟合BSDF测量数据 u+zq:2)H6 xnu|?;.}! 4.2 来自划痕的散射 Ox&g#,@h 5. 来自颗粒污染的散射 HFx8v!^5N 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) 'MM#nQ\( 5.2 颗粒密度函数模型 4kA/W0 VG 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 1C=}4^Pu f$k#\=2% 6. 来自黑处理表面的散射 eR8qO"%2: 6.1 表面涂黑处理的原理 WZCX&ui |