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7fX<511( 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 14'45 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 kn"(A.R 常熟黉论教育咨询有限公司 z%LIX^q9 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 2Q"K8=s 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 l?^4!&Nm 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) U!Z,xx[] 讲师:讯技光电高级工程师 ^Js9 s8?$ 课程简介: '!a'ZjYyi 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 dmN&+t ~<OSYb 课程大纲: Ezv
Y"T@ 1. 杂散光介绍与术语 KFkoS0M5| 1.1 杂散光路径 w(TJ*::T 1.2 关键面和照明面 qXjxNrK 1.3杂光内部和外部杂散光 QS]1daMIK< 2. 基本辐射度量学-辐射 nL.<[]r 2.1 BSDF及其散射模型 +|>kCtZH% 2.2 TIS总散射概念 H&}pkrH~ 2.3 PST(点源透射比) A7hVHxNJ- 3. 杂散光分析中的光线追迹 p`#R<K 3.1 FRED软件光线追迹介绍 h.s+)fl\ 3.2构建杂散光模型 t\j*}# S • 定义光学和机械几何 VD]zz
^ • 定义光学属性 9Ly]DZ;L 3.3 光线追迹 Q7COQ2~K • 使用光线追迹来量化收敛速度 l/
; • 重点采样 usL*
x9i • 反向光线追迹 #3 pb(fbw • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 1,!(0
5H • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 1&(V • 杂散光对MTF的影响 eSmLf*\G 4. 来自RMS表面粗糙的散射 m&?r%x 4.1来自表面粗糙的散射 X=8{$: • RMS粗糙度与BSDF的关系 %(G* , • 由PSD推导BSDF JNUt$h • 拟合BSDF测量数据 xZF}D/S?Ov =;&yd';k 4.2 来自划痕的散射 M$8^91%4B 5. 来自颗粒污染的散射 KC#q@InK 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) 4G>H 5.2 颗粒密度函数模型 x&T [*i 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 Q=20IQp @qlK6tE` 6. 来自黑处理表面的散射 -JjM y X 6.1 表面涂黑处理的原理 q,eVjtF 6.2拟合BRDF测量数据 zXxT%ZcCj 6.3 使用已知的BSDF数据 - kwXvYu\ 案例:红外热辐射的杂散光分析 6s/& |