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6(8F4[D 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 7h
54j 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 <<
6GE 常熟黉论教育咨询有限公司 =2p?_.|' 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 c]9gf\WW 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 |A3"Jc.2o 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) W> pe- 讲师:讯技光电高级工程师 W3.[d->X 课程简介: o[!'JUxZ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 \}b2oiY );0 课程大纲: Nh!`"B2B 1. 杂散光介绍与术语 JQM_96\ 1.1 杂散光路径 %ztZ#h~g 1.2 关键面和照明面 e/D{^*~S 1.3杂光内部和外部杂散光 7:UeE~uB: 2. 基本辐射度量学-辐射 Ub3$ ` 2.1 BSDF及其散射模型 [PIMG2"G 2.2 TIS总散射概念 jW:7PS 2.3 PST(点源透射比) J||g(+H> 3. 杂散光分析中的光线追迹 Dmh$@Uu#F 3.1 FRED软件光线追迹介绍 E'WXi!>7p 3.2构建杂散光模型 ud/!@WG • 定义光学和机械几何 |ty&}'6C • 定义光学属性 TQn!MUj/^ 3.3 光线追迹 45JL{YRN • 使用光线追迹来量化收敛速度 s$#64"F • 重点采样 J*zzjtY( 1 • 反向光线追迹 j
e\!0{ • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 6{+yAsI • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 85E$m'0O • 杂散光对MTF的影响 :qo[@ x{ 4. 来自RMS表面粗糙的散射 Mk*4J]PP 4.1来自表面粗糙的散射 o9xc$hX} • RMS粗糙度与BSDF的关系 [Hx}#Kds • 由PSD推导BSDF :BxO6@>Xc • 拟合BSDF测量数据 s@L ;3WdO ?T/4
= 4.2 来自划痕的散射 ,kJ'_mq 5. 来自颗粒污染的散射 B!&5*f}* 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) .BPd06y 5.2 颗粒密度函数模型 K28L(4 ) 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 oCCtjr *B&P[n 6. 来自黑处理表面的散射 "(mJupI 6.1 表面涂黑处理的原理 .<t {saToU 6.2拟合BRDF测量数据 ]O|>nTa 6.3 使用已知的BSDF数据 :-x?g2MY 案例:红外热辐射的杂散光分析 0N1t.3U 29:2Xu i 7. 鬼像反射、孔径衍射
hlVC+%8 7.1 鬼像反射
f,O10`4s • 表面镀膜 Xq1#rK( • 表面镀AR增透膜的仿真 xC< |