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%"jp': 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 o9XT_!Cwg 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 $b CN;yE 常熟黉论教育咨询有限公司 h>a/3a$g 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 }x~1w:zHd 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 ob_*fP 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) 0K<|>I 讲师:讯技光电高级工程师 \*+-Bm:$j 课程简介: P}re"<MD 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 ! N!A% l ~C=yP(~ 课程大纲: J1\H^gyW) 1. 杂散光介绍与术语 C f(g 1.1 杂散光路径 Chs#}=gzi 1.2 关键面和照明面 j*fs [4 1.3杂光内部和外部杂散光 a W9_[#z5 2. 基本辐射度量学-辐射 AzZb0wW6p 2.1 BSDF及其散射模型 +
FG Xx 2.2 TIS总散射概念 +t
JEG: 2.3 PST(点源透射比) ,7/F?!G!J 3. 杂散光分析中的光线追迹 05ZF>`g* 3.1 FRED软件光线追迹介绍 +FBUB 3.2构建杂散光模型 v?L`aj1ox • 定义光学和机械几何 4Q?3gA1 • 定义光学属性 YVW`|'7)| 3.3 光线追迹 Q1
5h \!u • 使用光线追迹来量化收敛速度 7i##g, • 重点采样 xsERn F>` • 反向光线追迹 Z1Pdnc7S[ • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 c?t,,\o(} • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 A>Y#-e;<d • 杂散光对MTF的影响 _qp^+ 4. 来自RMS表面粗糙的散射 {x\lK; 4.1来自表面粗糙的散射 tPz!C&.= • RMS粗糙度与BSDF的关系 rk)h_zN • 由PSD推导BSDF q_b,3Tp • 拟合BSDF测量数据 A>B_~= 0ME.O+ 4.2 来自划痕的散射 x&d:V 5. 来自颗粒污染的散射 QT)5-Jy 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) f2]O5rXp 5.2 颗粒密度函数模型 @UwDsx&2(t 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 _!C M P+gYLX8 6. 来自黑处理表面的散射 9>!B .Z?!# 6.1 表面涂黑处理的原理 HlgkW& |