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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 DR3M|4[  
    c:I1XC  
    vR`-iRQ?_  
    ,Hh7' `  
    亮点 nL!h hseH  
    S!.aBAW  
    3S1V^C-eBx  
    {:m5<6?x)  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 0h!2--Aur  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; .B*Yg<j  
    F48:mfj1r  
    具体要求:光源 z"o;|T:  
    `%AFKmc^;  
    vLR)B@O,2  
    f/Km$#xOr  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 YM{Q)115  
    zf $&+E-  
    GDw4=0u-  
    B[ae<V0 k  
    *cCr0\Z`  
    Jpg_$~k  
    }`6-^lj  
    I9*o[Jp5  
    具体要求:分束器 dvxD{UH  
    P]!$MOt  
    I=D{(%+^d  
    1~8F&  
    具体要求:参考光路反射镜 /k<*!H]KSg  
    5FqUFzVqsl  
    "F>-W \%  
    <y'B !d#  
    g3n^ <[E  
    + EG.p  
    具体要求:测试光路反射镜 d hiLv_/  
    u~<>jAy  
    X0b :Oiw  
    S1uW`zQ!+_  
    具体要求:探测器 .  hHt+  
    &=|W95  
    qMYR\4"$  
    a$#,'UB  
    结果:3D光线追迹 M_MiY|%V/K  
    [ /*$?PXt  
    B;4hI?  
     Cih}  
    结果:场追迹 1mOZ\L!m*  
    nhk +9  
    m#, F%s  
    \|R`wFn^P  
    结果:移动样品的场追迹结果 Mp75L5  
    YV-2es+Bd  
    x)G/YUv76  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 pX6T7  
     
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