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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 S{',QO*D6  
    WS& kx~oQ  
    >Ps7I  
    4eVI},  
    亮点 OPpjuIRv  
    wx=0'T-[  
    \EoX8b}$b0  
    GC8}X;((Y  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 9Qj2W  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 P`U<7xF~  
    ashcvn~z  
    具体要求:光源 "S~_[/q  
    HEK-L)S. *  
    P[t$\FS  
    dsK&U\ej}  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 ^GN8V-X4y  
    0f ER*.F  
    <(@Syv)  
    \(I6_a_{  
    ,]R8(bD)  
    X fz`^x>M  
    9?+9UlJ7K  
    OH<?DcfeL  
    具体要求:分束器 mxrG)n6Y  
    L{ gE'jCC  
    Z.&\=qiY  
    ~E4"}n[3A#  
    具体要求:参考光路反射镜 T+"f]v  
    =fc: 6JR  
    H;<!TX.zD  
    "cho }X  
    4C~UcGMv\  
    #nyv+x;  
    具体要求:测试光路反射镜 #i QX 6WF  
    &UAe!{E0  
    j'Y / H5  
    )"@t6.  
    具体要求:探测器 .uZ7 -l  
    <*'cf2Q$Av  
    _X5_ez^/=  
    @b!"joEy  
    结果:3D光线追迹 HgJb4Fi  
    !7H6i#g*  
    1`r| op},  
    L3y5a?G  
    结果:场追迹 $]d*0^J 6  
    TmEY W<  
    <FFJzNc+  
    1r`i]1<H  
    结果:移动样品的场追迹结果 q/@dR{-  
    kL{;.WsB  
    :x>T}C<Y  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 hsce:TB  
     
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