切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 621阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    5279
    光币
    20639
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 53/$8=  
    H`<u2fo|p  
    ;|T|*0vY[  
    +Q"s!\5  
    亮点 k4&adX@Y  
    C=;}7g  
    %^W(sB$b  
    &T-:`(  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ;xq;c\N  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 =WN8> <K!  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 j^/<:e c.  
    Wv3p!zW3I  
    说明:光源 v+E J $  
    n{|j#j  
    0<A*I{,4L  
    Q~^v=ye  
    说明:透镜系统 (| O(BxS  
    !]"M]tyv\  
    :V"e+I  
    /W>?p@j+K  
    说明:样品结构 c9gm%  
    hRKJKQ@7  
    6I~M8Lo ;  
    `$4wm0G|  
    说明:探测器 u<"-S63+  
    3#fg 2  
    @0:Eg1-  
    g:^Hex?Yfd  
    结果:3D光线追迹 j~rW 2(  
    3-y2i/4}$  
    H5vg s2R  
    H(?+-72KX  
    结果:场追迹矩形光栅 ty;a!yjC  
    `j2|aX %Z*  
    CC6]AM(i  
    /L`qOr2E  
    结果:场追迹锯齿形光栅 *ax&}AHK[/  
    z\k 6."e_&  
     
    分享到