切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 860阅读
    • 0回复

    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5431
    光币
    21335
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-15
    任务/系统说明 :BIgrz"Jz  
    r-Nv<oH;  
    Vn4y^_H  
    W{z7h[?5,  
    亮点 lwY2zX&%)/  
    ^o`;C\  
    I-=H;6w7  
    }p2YRTHx  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) ups] k?4  
     严格分析光栅衍射效率 zOV.cI6fZz  
     考虑入射光的方向分布 }ioHSkCD  
    5Z2tTw'i  
    说明:光源 qB%?t.k7  
    Tc{n]TV  
    FZUN*5`  
    @wzzI 7}C  
    说明:光束分束器 OPYl#3I  
    =wd=TX/  
    85QVj] nr  
    ,-55*Rbi  
    说明:检测透镜系统 H <gC{:S  
    8&gr}r- 5  
    @k"Q e&BQ  
    xEX"pd  
    说明:微型晶片 g~>g])  
    Xup"gYTZQ  
    F@+FXnz  
    L)0j&  
    说明:检测物镜 **].d;~[l  
    )#NT*@j`  
    ~M>EB6  
    W.B;Dy,Y  
    说明:探测器 }"V$li  
    nUgZ]ag=G  
    $]{20"  
    N-lo[bDJh  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Z= 'DV1A$,  
    _ct18nh9  
    jbDap i<  
    {giKC)!  
    结果:3D光线追迹(所有级) (wMiX i  
    =V)88@W  
    `{1&*4!  
    f3g#(1  
    结果:光线追迹 7W{xK'|]  
    tA*hh"9  
    XAn{xN pz  
    lur$?_gt  
    结果:场追迹 ,-4SVj8$P  
    nBVR)|+M  
    lphELPh  
    pl-2O $  
    结果:线性偏振光的场追迹 B4/0t:^I  
    UG]]Vk1d]  
    }I1A4=d  
     
    分享到