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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 Os*s{2OvO @}s EP&$ 关于此用例 rN,T}M=2 • 需要以下工具箱 /I:&P Pff - 基本工具箱 Y8h 96 • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) F_0@Sh" • 在此处获得免费试用版 Ed+jSO0 此用例展示了… O=jzz&E+ • 如何构建GRIN透镜 o+Mc%O Z • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 V{fG~19
Hzz v 6k mNsd&Rk' GRIN透镜的构建 j9X|c7| s{*bFA Z1F ijDXh y !="8ok+ GRIN透镜:GRIN介质 D=SjCmG K)^8 :nt OuKRaZ
xW7[ VTXc^ Ir=G\/A 系统设置:探测器和连接 X|aD>CT · 探测器说明: biS{. − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 "ji+~%`^[t =G !]_d0 7EVB|gTp rM?
J40&. 仿真结果:光线追迹分析 5~d=,;yE 5vLA)Al3 Qkw?QV-`k 仿真结果:场追迹分析 /(?s\}O ";/ogFi
U\!9dhx 系统设置:寻找像面 c|K:oi,z z|t2;j[
x[u6_6=q9 B*9?mcP\ 仿真结果:光线分析和场追迹分析 BO8?{~i R7KV
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