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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 $q##Tys z~th{4#E; 关于此用例 wg4Ol*y' • 需要以下工具箱 )~CNh5z6Y - 基本工具箱 o;u~Yg • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) FY)US> • 在此处获得免费试用版 N<O<wtXIj 此用例展示了… cEIs9; • 如何构建GRIN透镜 k+zskfo • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 X2E=2tXl`7 K@vU_x0Sl \cdns; GRIN透镜的构建 RgVnx] IF !tSh9L;<O +q%b'!&Q 9TZ 6c GRIN透镜:GRIN介质 @V Sr'?7- j XYr&F hlfdmh?/ "H]R\xp ? U* `!- 系统设置:探测器和连接 m:c0S8#: · 探测器说明: VHG}'r9KC% − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 >=86*U~ lHFk~Qp[ o%OwKp
s uQ%3?bx)T 仿真结果:光线追迹分析 }nptmc -56gg^Pnr C%|m[,Gx 仿真结果:场追迹分析 m%b#B>J,n !gcea?I ZcN#jnb0/ 系统设置:寻找像面 72vp6/;) /I:&P Pff [{:
l? -@XOe&q 仿真结果:光线分析和场追迹分析 Lf`<4 P +$F,!rV-s o+Mc%O Z
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