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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 }I6vqG QW~1%` 关于此用例 mcX/GO} • 需要以下工具箱 H ?y,ie#u - 基本工具箱 ig':%2V/ • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) nmi|\mof • 在此处获得免费试用版 .Twk {p 此用例展示了… ^B2
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9| Z@@K[$ ~PahoRS {Wu$YWE*sx GRIN透镜:GRIN介质 =+MPFhvg! fCobzDy
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([LSsZ]sj 1"M]3Kl 系统设置:探测器和连接 ZH)="qx[ · 探测器说明: M*HnM( − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 {9aE5kR Y6L~K? <)-Sj, 5vZ^0yFQ 仿真结果:光线追迹分析 \1 &,|\E# JOLaP@IPT WoRZW% 仿真结果:场追迹分析 z4]api(xZ \3aoM{ztD
`&sH-d4v 系统设置:寻找像面 BV upDGh3 4l45N6"
:#?5X|Gz ?+a,m# Yx 仿真结果:光线分析和场追迹分析 W=qVc tX %5BTv  =k0_eX0
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