薄膜测量设备（膜厚、n、k等）

美国Filmetrics公司F20系列薄膜测量设备：可精确快速测量各种光学及半导体薄膜的厚度、折射率及消光系数等。 DHh30b$c  
精度：0.4%或1埃 yTh60U  
测量速度：秒级 8g6G},Y0  
光谱范围：紫外到红外 ;c|G  
厚度范围：几十埃到几百微米 vf?m-wh  
多种光接入方式（样品测量平台）。 yOE N*^6  

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